| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 图表清单 | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·研究背景 | 第12-14页 |
| ·研究意义 | 第14-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-17页 |
| ·本文的研究内容与章节安排 | 第17-19页 |
| 第二章 自动光学检测系统硬件系统设计 | 第19-36页 |
| ·概述 | 第19页 |
| ·光学照明系统 | 第19-25页 |
| ·光源的选择 | 第20-21页 |
| ·光照颜色的选择 | 第21-22页 |
| ·亮视角照明和暗视角照明 | 第22-23页 |
| ·前景光照明和背景光照明 | 第23页 |
| ·同轴光照明 | 第23-24页 |
| ·光学照明系统设计 | 第24-25页 |
| ·图像采集系统 | 第25-33页 |
| ·图像传感器 | 第25-27页 |
| ·相机成像原理 | 第27-29页 |
| ·镜头 | 第29-32页 |
| ·图像采集卡 | 第32页 |
| ·图像采集系统的选型 | 第32-33页 |
| ·图像采集中的干扰与误差分析 | 第33页 |
| ·运动控制系统 | 第33-34页 |
| ·图像处理系统 | 第34-35页 |
| ·AOI 系统技术指标 | 第35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 表面贴装元件定位算法 | 第36-57页 |
| ·PCB MARK 的校准算法研究 | 第36-45页 |
| ·概述 | 第36-38页 |
| ·基于Hough 变换的PCB Mark 校准方法 | 第38-40页 |
| ·基于最小二乘法拟合圆的PCB Mark 校准方法 | 第40-41页 |
| ·最小二乘法拟合圆方法的改进 | 第41-42页 |
| ·亚像素精度PCB Mark 校准方法 | 第42-43页 |
| ·非圆形PCB Mark 的校准算法 | 第43页 |
| ·实验与分析 | 第43-45页 |
| ·表面贴装元件的定位算法 | 第45-56页 |
| ·概述 | 第45-46页 |
| ·基于序贯相似性检测算法的元件定位算法 | 第46-47页 |
| ·基于归一化互相关模板匹配的元件定位算法 | 第47-49页 |
| ·基于图像金字塔的算法优化 | 第49-50页 |
| ·归一化互相关模板匹配算法的改进 | 第50-52页 |
| ·亚像素精度定位算法 | 第52-53页 |
| ·彩色图像匹配定位算法 | 第53-54页 |
| ·实验与分析 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 表面贴装元件检测算法 | 第57-80页 |
| ·典型元件特征分析 | 第57-60页 |
| ·IC 芯片特征分析 | 第57页 |
| ·贴片式电阻、电容特征分析 | 第57-58页 |
| ·表面贴装元件检测策略 | 第58-60页 |
| ·基于连通域检测的芯片角度偏移及引脚连焊检测 | 第60-66页 |
| ·连通域的概念 | 第60-61页 |
| ·基于扇面搜索的连通域检测算法 | 第61-62页 |
| ·基于广度搜索的连通域检测算法 | 第62-63页 |
| ·基于线段的连通域检测算法 | 第63-64页 |
| ·基于图像矩计算的元器件偏转角度检测 | 第64-65页 |
| ·实验与分析 | 第65-66页 |
| ·基于字符识别的电阻检测算法 | 第66-73页 |
| ·基于相似度计算的字符识别算法 | 第67页 |
| ·基于LBP 特征的字符识别算法 | 第67-68页 |
| ·基于字符投影特征度量的字符识别算法 | 第68-69页 |
| ·基于Hausdorff 距离计算的字符识别算法 | 第69页 |
| ·字符偏转校正 | 第69-71页 |
| ·字符平滑去毛刺 | 第71-72页 |
| ·字符细化 | 第72-73页 |
| ·实验与分析 | 第73页 |
| ·基于HSV 颜色距离的电容检测算法 | 第73-77页 |
| ·HSV 颜色空间介绍 | 第73-76页 |
| ·基于颜色距离的颜色特征识别算法 | 第76-77页 |
| ·模板学习机制 | 第77-78页 |
| ·基于SURF 的电路板缩略图拼接算法 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 总结和展望 | 第80-83页 |
| ·论文总结 | 第80-81页 |
| ·未来展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第88页 |