| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·选题的意义和目的 | 第11-13页 |
| ·空间EUV太阳望远镜的发展状况 | 第13-16页 |
| ·国外空间软X射线/极紫外波段正入射望远镜的发展 | 第14-16页 |
| ·国内空间软X射线/极紫外波段正入射望远镜的发展 | 第16页 |
| ·空间辐射环境对光学材料的影响 | 第16-18页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第二章 空间辐照环境及辐照效应 | 第20-36页 |
| ·低地球轨道空间辐射环境概况 | 第20-24页 |
| ·地磁场俘获辐射带 | 第20-22页 |
| ·银河系宇宙射线 | 第22-23页 |
| ·太阳宇宙射线 | 第23-24页 |
| ·带电粒子与物质的相互作用 | 第24-26页 |
| ·带电粒子与点阵原子的碰撞问题 | 第26-29页 |
| ·碰撞过程中能量的转移 | 第27-28页 |
| ·离位阈能 | 第28-29页 |
| ·入射粒子在固体内的射程 | 第29-30页 |
| ·质子辐照效应 | 第30-34页 |
| ·电离效应 | 第32-33页 |
| ·离位效应 | 第33-34页 |
| ·空位缺陷簇 | 第34-36页 |
| 第三章 质子辐照对空间太阳望远镜滤光片微观结构及光学性能的影响 | 第36-52页 |
| ·实验材料、仪器及方法 | 第36-43页 |
| ·实验材料 | 第36-38页 |
| ·实验方法 | 第38-39页 |
| ·实验仪器 | 第39-43页 |
| ·辐照前后多晶纯Al薄膜的微观结构 | 第43-45页 |
| ·辐照前后Al滤光片的微观结构 | 第45-47页 |
| ·辐照前后Al滤光片透过率的变化 | 第47-50页 |
| ·EUV-软X射线波段滤光片透过率的计算公式 | 第47-48页 |
| ·辐照前后Al滤光片透过率的测量 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 质子辐照对空间太阳望远镜反射镜光学性能的影响 | 第52-75页 |
| ·EUV-软X射线多层膜基本理论 | 第52-58页 |
| ·极紫外和软X射线波段材料的光学常数 | 第53页 |
| ·极紫外和软X射线在理想多层膜中的反射 | 第53-55页 |
| ·极紫外和软X射线在非理想多层膜中的反射 | 第55-56页 |
| ·多层膜的选材原则 | 第56-58页 |
| ·实验材料及方法 | 第58-60页 |
| ·实验样品 | 第58页 |
| ·实验方法 | 第58-60页 |
| ·辐照前后Mo/Si多层膜表面粗糙度的变化 | 第60-62页 |
| ·辐照前后Mo/Si多层膜表面微观结构的变化 | 第62-67页 |
| ·辐照前后Mo/Si多层膜反射率的变化 | 第67-71页 |
| ·Ti/Si多层膜的微观结构 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 第五章 实验结论和展望 | 第75-77页 |
| ·实验结论 | 第75-76页 |
| ·对今后工作的展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第83页 |