| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3页 |
| 引言 | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第7-18页 |
| 1.1 等离子体概述 | 第7-8页 |
| 1.2 等离子体光谱诊断方法 | 第8-10页 |
| 1.2.1 发射光谱法 | 第9页 |
| 1.2.2 吸收光谱法 | 第9-10页 |
| 1.3 光腔衰荡光谱 | 第10-16页 |
| 1.3.1 光腔衰荡光谱技术的发展 | 第10-12页 |
| 1.3.2 光腔衰荡光谱原理介绍 | 第12-14页 |
| 1.3.3 连续波光腔衰荡光谱技术 | 第14-16页 |
| 1.4 本论文的选题和主要工作 | 第16-18页 |
| 2 实验方法及实验装置介绍 | 第18-28页 |
| 2.1 放电装置 | 第18-23页 |
| 2.1.1 等离子体射流放电 | 第18-19页 |
| 2.1.2 介质阻挡放电 | 第19-23页 |
| 2.2 光谱诊断系统 | 第23-28页 |
| 2.2.1 等离子体射流放电光谱诊断 | 第23页 |
| 2.2.2 光腔衰荡光谱诊断 | 第23-28页 |
| 3 OH自由基A~2Σ+→X~2П带的发射光谱诊断研究 | 第28-43页 |
| 3.1 OH自由基的紫外光谱和测温原理 | 第28-37页 |
| 3.1.1 OH自由基的紫外光谱 | 第29-33页 |
| 3.1.2 测温原理 | 第33-37页 |
| 3.2 实验结果分析 | 第37-42页 |
| 3.2.1 放电电压对OH自由基的谱线强度的影响 | 第38-40页 |
| 3.2.2 外界条件对气体温度的影响 | 第40-42页 |
| 3.3 结论 | 第42-43页 |
| 4 光腔衰荡光谱法对OH自由基的光谱诊断原理 | 第43-56页 |
| 4.1 OH自由基的理论介绍 | 第43-49页 |
| 4.1.1 OH自由基的近红外光谱 | 第43-44页 |
| 4.1.2 谱线的加宽与线形 | 第44-46页 |
| 4.1.3 OH自由基的定量测定 | 第46-49页 |
| 4.2 实验结果分析 | 第49-55页 |
| 4.2.1 空腔时的衰荡时间与高反镜反射率测定 | 第49-50页 |
| 4.2.2 OH自由基的定量测定 | 第50-51页 |
| 4.2.3 OH数密度随外界放电条件的变化 | 第51-54页 |
| 4.2.4 放电电压对OH自由基的转动温度的影响 | 第54-55页 |
| 4.3 总结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |