应用机电阻抗技术探测梁板结构损伤
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·选题背景与意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·机电阻抗技术的优势 | 第10-11页 |
| ·机电阻抗技术国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·主要研究内容 | 第13-14页 |
| 2 机电阻抗法的基本原理 | 第14-28页 |
| ·PZT力学和电学性能 | 第14-21页 |
| ·PZT的弹性本构关系 | 第14-15页 |
| ·PZT的介电关系 | 第15-16页 |
| ·PZT的正逆压电性和压电方程 | 第16-21页 |
| ·机电阻抗法基本理论 | 第21-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 3 梁、板结构的阻抗特性分析 | 第28-47页 |
| ·阻抗分析法 | 第28-34页 |
| ·一维PZT电导纳 | 第28-30页 |
| ·二维PZT电导纳 | 第30-33页 |
| ·梁、板机械阻抗 | 第33-34页 |
| ·FEM耦合法 | 第34-36页 |
| ·压电耦合有限元基本理论 | 第34-36页 |
| ·ANSYS中的压电耦合分析 | 第36页 |
| ·梁、板结构的阻抗特性 | 第36-46页 |
| ·梁、板有限元模型建立 | 第36-40页 |
| ·梁结构的阻抗特性研究 | 第40-44页 |
| ·板结构的阻抗特性研究 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 4 应用机电阻抗技术探测梁、板结构损伤 | 第47-80页 |
| ·试验装置与方案 | 第47-52页 |
| ·试验设备 | 第47-48页 |
| ·试验材料及试件制作 | 第48-49页 |
| ·支撑边界设计 | 第49-51页 |
| ·导线连接方式设计 | 第51-52页 |
| ·应用机电阻抗技术探测梁的损伤 | 第52-67页 |
| ·损伤程度对导纳信号的影响 | 第52-58页 |
| ·感应范围与频段选择关系探讨 | 第58-60页 |
| ·损伤位置对导纳信号的影响 | 第60-62页 |
| ·低频激励下损伤的损伤程度识别 | 第62-65页 |
| ·PZT与铜片粘结用胶研究 | 第65-67页 |
| ·应用机电阻抗技术探测板的损伤 | 第67-79页 |
| ·损伤程度对导纳信号的影响 | 第67-72页 |
| ·PZT感应范围与频段选择关系探讨 | 第72-75页 |
| ·损伤位置对导纳信号影响 | 第75-77页 |
| ·电压幅值对导纳信号的影响 | 第77-79页 |
| ·小结 | 第79-80页 |
| 5 结论与展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
