摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-16页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 套管金属耗损检测技术的国内外研究历史与现状 | 第12-14页 |
1.3 主要研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
第二章 套管金属耗损检测原理与仿真 | 第16-26页 |
2.1 套管金属耗损检测技术路线与研究指标 | 第16-17页 |
2.2 套管金属耗损检测原理 | 第17-23页 |
2.2.1 远场涡流检测原理 | 第17-19页 |
2.2.2 远场电磁场信号在管壁中的变化情况 | 第19-23页 |
2.3 套管金属耗损检测仿真模型 | 第23-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 套管金属耗损检测方法研究 | 第26-53页 |
3.1 套管金属耗损检测空气校正 | 第26-29页 |
3.2 套管金属耗损检测测量方法研究 | 第29-31页 |
3.2.1 线圈间距与电磁信号的关系 | 第29-30页 |
3.2.2 多线圈组合测量方案 | 第30-31页 |
3.3 套管金属耗损检测信号处理方法研究 | 第31-42页 |
3.3.1 激励信号与电磁信号的关系 | 第32-33页 |
3.3.2 被测管壁厚度与电磁信号的关系 | 第33-37页 |
3.3.3 信号处理与系统噪声分析 | 第37-42页 |
3.4 套管金属耗损检测数据处理方法研究 | 第42-52页 |
3.4.1 仪器测量分辨率分析 | 第42-45页 |
3.4.2 数据处理方法分析 | 第45-52页 |
3.5 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 套管金属耗损检测系统工程化装置设计 | 第53-69页 |
4.1 套管金属耗损检测系统工程化装置设计方案 | 第53-55页 |
4.2 激励模块电路设计 | 第55-57页 |
4.3 检测模块信号处理电路设计 | 第57-63页 |
4.3.1 模拟信号处理电路设计 | 第57-62页 |
4.3.2 数字信号处理电路设计 | 第62-63页 |
4.4 套管金属耗损检测系统软件设计及逻辑设计 | 第63-68页 |
4.4.1 单片机内部程序设计 | 第63-66页 |
4.4.2 DSP内部程序的设计 | 第66-67页 |
4.4.3 FPGA内部逻辑的设计 | 第67-68页 |
4.5 本章小结 | 第68-69页 |
第五章 套管金属耗损检测系统电路调试与测试分析 | 第69-86页 |
5.1 套管金属耗损检测系统电路调试 | 第69-75页 |
5.1.1 激励模块电路调试 | 第69-72页 |
5.1.2 检测模块信号处理电路调试 | 第72-75页 |
5.2 套管金属耗损检测数据处理结果及分析 | 第75-79页 |
5.2.1 阈值检测法结果分析 | 第75-77页 |
5.2.2 数字相敏检波法结果分析 | 第77-79页 |
5.3 套管金属损耗测试结果分析 | 第79-85页 |
5.3.1 空气校正 | 第79页 |
5.3.2 套管壁厚计算 | 第79-82页 |
5.3.3 套管金属耗损测试与分析 | 第82-85页 |
5.4 本章小结 | 第85-86页 |
第六章 结束语 | 第86-87页 |
致谢 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-90页 |
附录 | 第90-91页 |