摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第10-24页 |
1.1 保偏光纤的发展与应用 | 第10-16页 |
1.1.1 保偏光纤的原理、参数与应用 | 第10-12页 |
1.1.2 保偏光纤的分类 | 第12-14页 |
1.1.3 保偏光纤的参数测量 | 第14-16页 |
1.2 偏振模耦合的测量与白光干涉 | 第16-22页 |
1.2.1 保偏光纤中偏振模耦合的测量 | 第16-19页 |
1.2.2 白光干涉的应用与现状 | 第19-22页 |
1.3 本文的主要工作与论文各章内容 | 第22-24页 |
第二章 测试原理及整体设计方案 | 第24-45页 |
2.1 光纤的模式理论与模式耦合 | 第24-30页 |
2.1.1 光纤的模式理论 | 第24-27页 |
2.1.2 光纤内部的模式耦合方程 | 第27-28页 |
2.1.3 光纤内部的偏振耦合 | 第28-30页 |
2.2 测试原理与系统的计算模型 | 第30-32页 |
2.3 测试系统的整体设计 | 第32-43页 |
2.3.1 光学部分 | 第33-35页 |
2.3.2 机械结构 | 第35-40页 |
2.3.3 电路部分 | 第40-41页 |
2.3.4 软件设计与数据处理 | 第41-43页 |
2.4 本章小结 | 第43-45页 |
第三章 测试系统的光学设计 | 第45-61页 |
3.1 测试系统的光路设计 | 第45-49页 |
3.1.1 偏振调整机构的光路设计 | 第45-47页 |
3.1.2 干涉仪的光路设计与干涉图样分析 | 第47-49页 |
3.2 干涉系统的光源 | 第49-51页 |
3.3 光纤扩束透镜的设计 | 第51-55页 |
3.4 光学膜系的设计 | 第55-56页 |
3.5 干涉的定域面分析 | 第56-59页 |
3.6 平面反射镜间倾角对干涉的影响 | 第59-60页 |
3.7 本章小结 | 第60-61页 |
第四章 电路设计与数据采集 | 第61-83页 |
4.1 电路的整体设计 | 第61-62页 |
4.2 PCI 数据采集卡 | 第62-71页 |
4.2.1 PCI 接口芯片S5933 | 第63-64页 |
4.2.2 总线驱动器和总线缓冲器 | 第64-65页 |
4.2.3 主控芯片FPGA 的设计 | 第65-69页 |
4.2.4 高速数字电路设计与实现 | 第69-71页 |
4.3 光电采集模块 | 第71-77页 |
4.3.1 PIN 光电探测器 | 第72-74页 |
4.3.2 偏振调整机构中的光电采集模块1 | 第74-76页 |
4.3.3 迈克耳逊干涉仪中的光电采集模块2 | 第76-77页 |
4.4 步进电机驱动模块 | 第77-79页 |
4.5 电路系统的时钟信号 | 第79页 |
4.6 电源模块 | 第79-81页 |
4.7 干涉系统的数据采样分析 | 第81-82页 |
4.8 本章小结 | 第82-83页 |
第五章 软件设计与数据处理 | 第83-102页 |
5.1 软件的整体设计与开发环境 | 第83-84页 |
5.2 应用程序框架 | 第84-86页 |
5.3 PCI 数据采集卡的接口软件设计 | 第86-89页 |
5.3.1 Windriver 库函数的调用 | 第87-88页 |
5.3.2 WinDriver 的数据结构类型 | 第88-89页 |
5.4 显示模块 | 第89-91页 |
5.4.1 屏幕显示坐标与映射 | 第89-90页 |
5.4.2 屏幕显示的颜色映射 | 第90-91页 |
5.4.3 绘图函数 | 第91页 |
5.5 文件读写与打印 | 第91-93页 |
5.6 数据处理模块 | 第93-101页 |
5.6.1 采集数据的预处理 | 第93-94页 |
5.6.2 离散数字信号的滤波 | 第94-96页 |
5.6.3 干涉曲线的数据拟合 | 第96-99页 |
5.6.4 小波变换与干涉极大值的提取 | 第99-101页 |
5.7 本章小结 | 第101-102页 |
第六章 测试数据及精度分析 | 第102-114页 |
6.1 测试系统的测量范围与精度 | 第102-104页 |
6.2 光学元器件空间定位对测量结果的影响 | 第104-107页 |
6.2.1 半波片与偏振棱镜的空间位置变化对测试的影响 | 第104-105页 |
6.2.2 分束棱镜空间定位的影响 | 第105-106页 |
6.2.3 反射平面镜的位置影响 | 第106-107页 |
6.3 光学元器件表面精度分析 | 第107-108页 |
6.4 光电采集电路的频率特性与噪声分析 | 第108-111页 |
6.4.1 频率特性 | 第108-109页 |
6.4.2 噪声分析 | 第109-111页 |
6.5 测试系统的试验数据 | 第111-113页 |
6.6 本章小结 | 第113-114页 |
第七章 结论与展望 | 第114-116页 |
参考文献 | 第116-126页 |
攻读博士学位期间的发表的学术论文与科研成果 | 第126-127页 |
致谢 | 第127页 |