摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 国内外电子天平研究现状 | 第11-12页 |
1.2 电子天平发展趋势 | 第12-13页 |
1.3 虚拟仪器技术的产生及发展 | 第13-16页 |
1.4 虚拟仪器技术的优点与发展趋势 | 第16-17页 |
1.5 课题来源与研究意义 | 第17-18页 |
1.6 本文的主要内容 | 第18-20页 |
第2章 电子分析天平的构成与工作原理 | 第20-30页 |
2.1 电子分析天平系统的构成 | 第20页 |
2.2 传感器与调理电路 | 第20-23页 |
2.2.1 电磁力平衡传感器 | 第20-21页 |
2.2.2 数字温度传感器DS18B20 | 第21-22页 |
2.2.3 调理电路 | 第22-23页 |
2.3 A/D转换电路 | 第23-24页 |
2.4 单片机系统电路 | 第24-27页 |
2.4.1 MSP430F449内部资源 | 第24-25页 |
2.4.2 时钟电路 | 第25页 |
2.4.3 键盘接口电路 | 第25-26页 |
2.4.4 通信单元 | 第26页 |
2.4.5 内置砝码控制电路 | 第26-27页 |
2.5 智能电子分析天平的主要功能 | 第27-30页 |
2.5.1 称重功能 | 第27-28页 |
2.5.2 校准功能 | 第28页 |
2.5.3 故障检测与报警 | 第28页 |
2.5.4 通信功能 | 第28页 |
2.5.5 其他功能 | 第28-30页 |
第3章 电子分析天平上位机软件系统分析 | 第30-36页 |
3.1 上位机管理系统的功能需求分析 | 第30-31页 |
3.1.1 上位机管理系统的功能要求 | 第30页 |
3.1.2 上位机管理系统的模块化设计 | 第30-31页 |
3.1.3 上位机管理系统的主程序流程 | 第31页 |
3.2 上位机开发平台LabVIEW | 第31-36页 |
3.2.1 LabVIEW概述 | 第32-33页 |
3.2.2 前面板 | 第33-34页 |
3.2.3 框图程序 | 第34页 |
3.2.4 图标和连接端口 | 第34页 |
3.2.5 基于LabVIEW的软件开发与调试流程 | 第34-36页 |
第4章 电子分析天平管理系统软件设计 | 第36-64页 |
4.1 通信模块设计 | 第36-44页 |
4.1.1 电子分析天平的RS-232串行通信 | 第36-38页 |
4.1.2 电子分析天平串行通信下位机接口程序设计 | 第38-40页 |
4.1.3 MSP430F449与上位机之间的数据传输 | 第40-44页 |
4.1.4 电子分析天平的数据上传 | 第44页 |
4.2 用户登录模块设计 | 第44-52页 |
4.2.1 用户登录模块加密算法实现 | 第47-49页 |
4.2.2 电子分析天平的用户管理 | 第49-50页 |
4.2.3 密码设置与修改 | 第50-51页 |
4.2.4 修改用户 | 第51页 |
4.2.5 删除用户 | 第51-52页 |
4.3 称重主界面与按键模块设计 | 第52-54页 |
4.4 功能设置模块设计 | 第54-58页 |
4.4.1 读取电子分析天平状态 | 第55页 |
4.4.2 读取电子分析天平状态解码过程 | 第55-56页 |
4.4.3 电子分析天平状态编码过程 | 第56-58页 |
4.5 数据库模块设计 | 第58-60页 |
4.5.1 LabVIEW中访问数据库的方法 | 第58-59页 |
4.5.2 电子分析天平上位机管理系统的数据录入 | 第59页 |
4.5.3 MySQL数据库及访问引擎技术 | 第59-60页 |
4.6 电子分析天平上位机管理系统的软件调试 | 第60-62页 |
4.7 电子分析天平上位机管理系统的可靠性设计 | 第62-64页 |
第5章 系统的实验测试 | 第64-70页 |
5.1 电子天平的计量性能检验 | 第64-67页 |
5.1.1 偏载误差检测 | 第65-66页 |
5.1.2 示值误差检测 | 第66-67页 |
5.2 电子天平上位机管理系统功能检验 | 第67-70页 |
结论 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
附录A 攻读学位期间撰写的学术论文 | 第77-78页 |
附录B 电子分析天平上位机管理程序结构框图 | 第78页 |