瞬态电压抑制二极管可靠性筛选工艺研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-26页 |
| ·课题的意义 | 第10-12页 |
| ·瞬态电压抑制二极管简介 | 第12-18页 |
| ·外形尺寸 | 第12页 |
| ·内部结构简述 | 第12-15页 |
| ·典型I-V 特性 | 第15-16页 |
| ·主要电性能参数 | 第16-17页 |
| ·主要生产流程 | 第17-18页 |
| ·可靠性的基本定义和概念 | 第18-20页 |
| ·可靠性 | 第18页 |
| ·固有可靠性 | 第18页 |
| ·贮存可靠性 | 第18-19页 |
| ·使用可靠性 | 第19页 |
| ·可靠度 | 第19-20页 |
| ·可靠性技术指标 | 第20-23页 |
| ·可靠度 | 第21页 |
| ·失效概率 | 第21页 |
| ·失效密度 | 第21-22页 |
| ·失效率 | 第22页 |
| ·平均寿命 | 第22-23页 |
| ·国内外可靠性研究动态 | 第23-26页 |
| ·可靠性技术发展历程 | 第23-25页 |
| ·国内外可靠性研究动态 | 第25-26页 |
| 第二章 可靠性筛选的基本原理、方法和条件 | 第26-55页 |
| ·可靠性筛选的基本原理 | 第26-31页 |
| ·可靠性筛选的定义 | 第26-27页 |
| ·失效概率曲线 | 第27-28页 |
| ·可靠性筛选的原理 | 第28-30页 |
| ·产品失效的判定准则 | 第30页 |
| ·可靠性筛选的方法 | 第30-31页 |
| ·零部件的可靠性筛选 | 第31-34页 |
| ·硅片 | 第32页 |
| ·杂质源和铝源 | 第32-33页 |
| ·电极引线组件 | 第33-34页 |
| ·封装前的可靠性工艺控制 | 第34-41页 |
| ·可靠性工艺控制程序 | 第34-35页 |
| ·失效模式和失效机理分析 | 第35-36页 |
| ·关键工艺控制点及其控制参数 | 第36页 |
| ·工艺环境的控制 | 第36-39页 |
| ·去离子水质量的控制 | 第39页 |
| ·气体质量的控制 | 第39-40页 |
| ·化学试剂质量的控制 | 第40页 |
| ·封装前镜检的控制 | 第40-41页 |
| ·封装后的可靠性筛选 | 第41-55页 |
| ·高温寿命 | 第41-42页 |
| ·温度循环 | 第42-43页 |
| ·浪涌 | 第43-44页 |
| ·中间电测试 | 第44-45页 |
| ·IP 冲击 | 第45-47页 |
| ·稳态工作功率 | 第47-49页 |
| ·高温反偏 | 第49-50页 |
| ·X 射线检查 | 第50-53页 |
| ·热冲击 | 第53页 |
| ·机械振动 | 第53页 |
| ·离心加速度 | 第53-54页 |
| ·终点测试(PDA 的中间电参数变化量 Δ) | 第54-55页 |
| 第三章 可靠性筛选的应用 | 第55-71页 |
| ·可靠性筛选程序 | 第55-59页 |
| ·工作要点 | 第55-56页 |
| ·工作内容 | 第56页 |
| ·注意事项 | 第56-57页 |
| ·工作程序 | 第57-59页 |
| ·改进和优化 | 第59页 |
| ·可靠性筛选程序的有效性 | 第59-60页 |
| ·可靠性筛选应力的选择 | 第59页 |
| ·可靠性筛选应力的作用范围 | 第59-60页 |
| ·产品各阶段的可靠性筛选 | 第60-62页 |
| ·设计研发阶段 | 第60-61页 |
| ·批量生产阶段 | 第61-62页 |
| ·维持和改进阶段 | 第62页 |
| ·可靠性增长专项技术攻关 | 第62-64页 |
| ·高温性能 | 第62-63页 |
| ·温度循环 | 第63页 |
| ·瞬态脉冲峰值功率 | 第63-64页 |
| ·使用可靠性 | 第64-68页 |
| ·器件选择 | 第64页 |
| ·降额使用 | 第64-65页 |
| ·过流防护 | 第65页 |
| ·贮存环境条件 | 第65-66页 |
| ·装配和焊接 | 第66-68页 |
| ·可靠性的预测 | 第68-71页 |
| ·可靠性预测的定义 | 第68页 |
| ·可靠性预测的意义 | 第68页 |
| ·可靠性预测的方法 | 第68-69页 |
| ·可靠性测算 | 第69-71页 |
| 第四章 结论 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |
