TCAM的可测试性设计

摘要	第4-5页
Abstract	第5-6页
1 绪论	第9-18页
1.1 课题的研究背景和意义	第9-10页
1.2 TCAM的国内外研究现状	第10-16页
1.3 论文的研究思想及研究内容	第16-18页
2 TCAM的故障模型分析	第18-23页
2.1 TCAM单元内故障模型	第18-19页
2.2 TCAM单元间故障模型	第19-22页
2.2.1 TCAM垂直单元间故障模型	第19-21页
2.2.2 TCAM水平单元间故障模型	第21-22页
2.3 TCAM的延迟类故障	第22-23页
3 基于March-Like算法的改进型算法	第23-29页
3.1 March-Like算法分析	第23-26页
3.2 针对March-Like算法的电路改进	第26-27页
3.3 改进型March-Like算法的提出	第27-28页
3.4 改进型March-Like算法的优点	第28-29页
4 针对高速大容量TCAM的QZDTest算法	第29-51页
4.1 TCAM单元内故障检测覆盖率分析	第31-34页
4.2 TCAM垂直单元间故障检测覆盖率分析	第34-42页
4.3 TCAM水平单元间故障检测覆盖率分析	第42-50页
4.4 TCAM的延迟故障覆盖率分析	第50-51页
5 TCAM的可测试性设计	第51-62页
5.1 判定电路	第51-53页
5.2 状态机的设计	第53-55页
5.3 D触发器构成的移位写寄存器电路	第55-58页
5.4 D触发器构成的移位比较寄存器电路	第58-60页
5.5 TCAM的可测试性设计仿真	第60-62页
结论	第62-63页
参考文献	第63-66页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况	第66-67页
致谢	第67-68页