电子元器件产品质量自动检测技术的研究与应用
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
·电子元件质量检测国内外研究现状 | 第11-12页 |
·机器视觉技术在尺寸测量方面的发展及应用 | 第12-13页 |
·本课题主要工作 | 第13-15页 |
·主要研究内容 | 第13-14页 |
·需要解决的关键技术 | 第14-15页 |
第2章 总体方案的设计 | 第15-18页 |
·电子元件质量检测设备的性能要求 | 第15页 |
·电子元件质量检测设备的总体设计方案 | 第15-16页 |
·本章小结 | 第16-18页 |
第3章 系统整体机械结构的设计 | 第18-25页 |
·机电系统的机械结构及其设计要求 | 第18页 |
·电磁振动自动上料装置 | 第18-19页 |
·定位检测机械结构的设计 | 第19-23页 |
·定位检测机械结构的方案设计 | 第19页 |
·定位检测机械结构的总体设计 | 第19-21页 |
·双直动电磁铁的配合运动设计 | 第21页 |
·直动电磁铁的选用 | 第21-23页 |
·检测触头机构的设计 | 第23页 |
·分选机构的设计 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第4章 定位检测装置控制部分的设计 | 第25-33页 |
·定位检测装置控制方案的确定 | 第25页 |
·CPU 的选择 | 第25-26页 |
·定位检测装置控制部分程序设计 | 第26页 |
·电磁兼容性设计 | 第26-32页 |
·硬件抗干扰性设计 | 第27页 |
·软件抗干扰性设计 | 第27-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第5章 电子元件质量检测系统的设计 | 第33-67页 |
·质量检测系统的总体设计 | 第33-34页 |
·等效电阻与等效电容的检测 | 第34-39页 |
·过渡过程法测量原理 | 第34-36页 |
·具体测量方法 | 第36-37页 |
·实验数据及误差分析 | 第37-38页 |
·AT24C32 存储器 | 第38-39页 |
·谐振频率的检测 | 第39-42页 |
·石英晶振的等效电路 | 第39-40页 |
·传统石英晶振频率检测方法 | 第40-41页 |
·本课题采用的频率检测方法 | 第41-42页 |
·实验过程及数据 | 第42页 |
·电子元件引脚可焊性的检测 | 第42-49页 |
·电子元件引脚可焊性综述 | 第42-43页 |
·电子元件引脚可焊性退化的原因 | 第43-44页 |
·可焊性检测的重要性 | 第44页 |
·通用的润湿能力检测方法 | 第44-46页 |
·干法测量电子元件可焊性研究 | 第46-47页 |
·干法测量电子元件可焊性具体应用 | 第47-49页 |
·电路中电子器件的选择 | 第49页 |
·气密性的检测 | 第49-51页 |
·电子元件气密性检测的重要性 | 第49-50页 |
·通用电子元件气密性检测方法 | 第50-51页 |
·电子元件气密性检测新方法的探讨 | 第51页 |
·电子元件引脚的外形检测 | 第51-64页 |
·CCD 图像传感器及其工作原理 | 第52-53页 |
·CCD 测量系统方案的确定 | 第53页 |
·线阵CCD 测量系统方案设计 | 第53-54页 |
·线阵CCD 测量系统的结构设计 | 第54-56页 |
·线阵CCD 图像传感器的选择 | 第56-57页 |
·CCD 控制系统的硬件电路设计 | 第57-61页 |
·CCD 检测系统的软件设计 | 第61-62页 |
·CCD 光路系统的调试 | 第62-63页 |
·实验结果及误差分析 | 第63-64页 |
·电子元件质量检测系统整体程序设计 | 第64页 |
·本章小结 | 第64-67页 |
第6章 电子元件质量检测上位机软件的设计 | 第67-73页 |
·串口通信基础 | 第67页 |
·MSCOMM 控件 | 第67-68页 |
·MSComm 控件的一些常用属性 | 第68页 |
·MSComm 控件的通讯处理方式 | 第68页 |
·PC 机与单片机的串口通讯设计 | 第68-72页 |
·硬件实现 | 第68-69页 |
·上位机界面设计 | 第69-71页 |
·程序设计 | 第71-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论 | 第73-74页 |
附录 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
攻读硕士学位期间所发表的论文及科研成果 | 第79-80页 |
致谢 | 第80页 |