摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-12页 |
1.1 逸珑 8133 项目介绍 | 第8-9页 |
1.2 国内外电子计算机及可靠性技术研究现状 | 第9-10页 |
1.3 主要研究内容 | 第10-11页 |
1.4 论文结构 | 第11-12页 |
第二章 可靠性和可靠性试验概论 | 第12-17页 |
2.1 可靠性的定义 | 第12-13页 |
2.2 可靠性试验的定义 | 第13-14页 |
2.3 可靠性试验的分类及目的 | 第14-15页 |
2.4 可靠性试验的原理 | 第15页 |
2.5 可靠性的研究意义 | 第15-16页 |
2.6 本章小结 | 第16-17页 |
第三章 逸珑 8133 的可靠性试验计划 | 第17-34页 |
3.1 可靠性试验的一般要求 | 第17-19页 |
3.1.1 试验类型的选择的要求 | 第17页 |
3.1.2 可靠性试验设计的要求 | 第17-18页 |
3.1.3 试验样品的要求 | 第18页 |
3.1.4 试验实施的要求 | 第18页 |
3.1.5 样品的检测要求 | 第18-19页 |
3.2 可靠性试验的设计 | 第19-27页 |
3.2.1 试验类型的选择 | 第19-20页 |
3.2.2 定时截尾试验方案的设计 | 第20-22页 |
3.2.3 试验条件的选择及试验周期的设计 | 第22-25页 |
3.2.4 试验设备的介绍 | 第25-27页 |
3.3 失效分析 | 第27-29页 |
3.3.1 失效分析的目的和意义 | 第27-28页 |
3.3.2 失效分析的基本内容及要求 | 第28-29页 |
3.3.3 主要失效模式及失效机理 | 第29页 |
3.4 失效分析技术 | 第29-32页 |
3.4.1 以失效分析为目的的电测技术 | 第30页 |
3.4.2 无损失效分析技术 | 第30-31页 |
3.4.3 显微形貌像技术 | 第31页 |
3.4.4 扫描电镜分析技术 | 第31页 |
3.4.5 以测量电压效应为基础的失效分析定位技术 | 第31-32页 |
3.4.6 以测量电流效应为基础的失效分析定位技术 | 第32页 |
3.5 失效分析的程序 | 第32-33页 |
3.6 本章小结 | 第33-34页 |
第四章 逸珑 8133 的可靠性试验过程 | 第34-54页 |
4.1 试验方案 | 第34页 |
4.2 试验项目 | 第34-45页 |
4.2.1 开关机试验 | 第34-35页 |
4.2.2 交变湿热试验 | 第35-37页 |
4.2.3 温度冲击试验 | 第37-39页 |
4.2.4 机械冲击试验 | 第39-40页 |
4.2.5 机械振动试验 | 第40-41页 |
4.2.6 跌落试验 | 第41-42页 |
4.2.7 静电放电(ESD)试验 | 第42-45页 |
4.2.8 试验报告要求 | 第45页 |
4.3 试验结果与分析 | 第45-53页 |
4.3.1 开关机试验结果与失效分析及改进措施 | 第45-46页 |
4.3.2 交变湿热试验结果与失效分析及改进措施 | 第46页 |
4.3.3 温度冲击试验结果与失效分析及改进措施 | 第46-48页 |
4.3.4 机械冲击试验与分析及改进措施 | 第48-50页 |
4.3.5 机械振动试验结果与分析及改进措施 | 第50-52页 |
4.3.6 跌落试验结果与分析及改进措施 | 第52-53页 |
4.3.7 静电放电试验结果与分析及改进措施 | 第53页 |
4.4 试验总结 | 第53页 |
4.5 本章小结 | 第53-54页 |
第五章 结论与展望 | 第54-56页 |
参考文献 | 第56-57页 |
附录 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第57-58页 |
致谢 | 第58页 |