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一种IEEE1394总线物理层接口电路的验证

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-12页
    1.1 课题背景与意义第8-9页
    1.2 国内外发展现状第9-10页
    1.3 研究内容与技术指标第10-11页
        1.3.1 研究内容第10-11页
        1.3.2 技术指标第11页
    1.4 论文组织第11-12页
第2章 集成电路验证技术与方法第12-18页
    2.1 验证技术概述第12-14页
    2.2 验证观测点划分第14页
    2.3 验证层次介绍第14-15页
    2.4 验证的效率第15-16页
    2.5 本课题所采用的验证技术与方法第16页
    2.6 本章小结第16-18页
第3章 IEEE1394总线物理层接口电路功能分析第18-36页
    3.1 IEEE1394总线协议介绍第18-20页
    3.2 IEEE1394总线物理层接口电路功能分析第20-32页
        3.2.1 总线初始化功能第22-24页
        3.2.2 总线仲裁功能第24-26页
        3.2.3 PHY-LINK接口功能第26-31页
        3.2.4 端口操作功能第31-32页
    3.3 物理层包格式第32-35页
        3.3.1 自标识包第32-33页
        3.3.2 物理层配置包第33-34页
        3.3.3 扩展物理包第34-35页
    3.4 本章小结第35-36页
第4章 验证平台搭建与接口电路功能仿真验证第36-60页
    4.1 功能仿真项列表第36页
    4.2 验证平台搭建第36-42页
    4.3 IEEE1394总线物理层接口电路功能前仿真验证第42-52页
        4.3.1 总线初始化功能前仿真验证第42-44页
        4.3.2 PHY-LINK接口功能前仿真验证第44-47页
        4.3.3 总线仲裁功能前仿真验证第47-49页
        4.3.4 端口操作功能前仿真验证第49-52页
    4.4 IEEE1394总线物理层接口电路功能后仿真验证第52-58页
    4.5 技术指标与功能仿真验证结果对照第58-59页
    4.6 本章小结第59-60页
第5章 接口电路芯片测试方案第60-66页
    5.1 整体测试方案设计第60-61页
    5.2 功能测试思路第61-62页
    5.3 性能参数基本测试第62-64页
    5.4 本章小结第64-66页
第6章 总结与展望第66-68页
    6.1 工作总结第66页
    6.2 工作展望第66-68页
参考文献第68-70页
致谢第70-72页
攻读硕士学位期间发表的论文第72页

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