高可靠电子产品可靠性试验策略研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-8页
第1章 绪论	第8-14页
·选题背景与意义	第8-9页
·可靠性试验相关概念	第9-11页
·相关研究综述与评析	第11-13页
·本文的研究目标和主要内容	第13-14页
第2章 贝叶斯统计试验方案研究	第14-22页
·统计试验方案类型分析	第14-15页
·现行标准型定时截尾试验方案数学原理研究	第15-16页
·先验分布的确定	第16-17页
·统计试验方案设计	第17-22页
第3章 可靠性保证试验方案研究	第22-45页
·可靠性保证试验公式的分析	第22-23页
·可靠性保证试验技术的基本原理分析	第23-31页
·可靠性保证试验工程应用的前提条件	第31-32页
·可靠性保证试验实施程序	第32-45页
第4章 高可靠电子产品可靠性试验策略案例	第45-60页
·可靠性有增长贝叶斯可靠性鉴定试验案例	第45-46页
·可靠性无增长贝叶斯可靠性鉴定试验案例	第46页
·某设备的可靠性保证试验案例	第46-53页
·某液晶显示模块的可靠性保证试验案例	第53-60页
第5章 结论	第60-65页
·效益评价与分析	第60-63页
·现存问题及未来工作的展望	第63-65页
参考文献	第65-68页
攻读硕士学位期间取得的研究成果	第68-69页
致谢	第69-70页
附件	第70页