摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第11-18页 |
1.1 选题背景及研究意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-16页 |
1.2.1 复合绝缘子组成材料的研究 | 第12-13页 |
1.2.2 电晕放电对硅橡胶老化影响的研究 | 第13-14页 |
1.2.3 污秽对复合绝缘子绝缘性能影响的研究 | 第14-16页 |
1.3 存在的问题 | 第16-17页 |
1.4 本文的研究内容 | 第17-18页 |
第2章 试验装置及试验方法介绍 | 第18-24页 |
2.1 试验装置 | 第18-21页 |
2.1.1 电晕放电老化试验装置 | 第18-19页 |
2.1.2 沿面闪络试验装置 | 第19-21页 |
2.2 电晕放电老化试验方法 | 第21-22页 |
2.2.1 电晕放电老化电压及老化时间的确定 | 第21页 |
2.2.2 电晕放电老化实验步骤 | 第21-22页 |
2.3 染污硅橡胶试样的制备 | 第22-23页 |
2.3.1 人工污秽试验的常用方法 | 第22-23页 |
2.3.2 染污硅橡胶试样的获得 | 第23页 |
2.4 本章小结 | 第23-24页 |
第3章 污秽和湿度对硅橡胶电晕老化后闪络电压影响规律的研究 | 第24-42页 |
3.1 正交试验简介 | 第24-30页 |
3.1.1 正交试验原理概述 | 第24-26页 |
3.1.2 正交试验结果的分析方法 | 第26-30页 |
3.2 染污硅橡胶正交电晕老化正交表的设计 | 第30-31页 |
3.3 不同污秽种类染污硅橡胶老化后的沿面闪络特性 | 第31-41页 |
3.3.1 高岭土(有盐)污染硅橡胶 | 第31-34页 |
3.3.2 硅藻土(有盐)污染硅橡胶 | 第34-38页 |
3.3.3 高岭土(无盐)污染硅橡胶 | 第38-41页 |
3.4 本章小结 | 第41-42页 |
第4章 污秽与湿度间交互作用对硅橡胶电晕老化后闪络电压影响的研究 | 第42-59页 |
4.1 污秽浓度与湿度间交互作用对闪络电压影响的研究 | 第42-51页 |
4.1.1 高岭土(有盐)污染硅橡胶交互作用研究 | 第42-45页 |
4.1.2 硅藻土(有盐)污染硅橡胶交互作用研究 | 第45-47页 |
4.1.3 高岭土(无盐)污染硅橡胶交互作用研究 | 第47-49页 |
4.1.4 污秽浓度与湿度对老化染污硅橡胶闪络电压影响差异分析 | 第49-51页 |
4.2 老化染污硅橡胶表面特性对憎水恢复特性影响的研究 | 第51-55页 |
4.2.1 憎水性测试结果 | 第52-54页 |
4.2.2 不同影响因素对老化染污硅橡胶憎水性恢复的影响 | 第54-55页 |
4.3 影响染污硅橡胶电晕老化的各因素间差异的研究 | 第55-57页 |
4.4 本章小结 | 第57-59页 |
第5章 结论与展望 | 第59-61页 |
5.1 结论 | 第59-60页 |
5.2 展望 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第64-65页 |
攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第65-66页 |
致谢 | 第66页 |