| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 ZnO材料的概述 | 第10-18页 |
| 1.2.1 ZnO的基本性质 | 第10-11页 |
| 1.2.2 ZnO的晶格结构 | 第11-13页 |
| 1.2.3 ZnO的能带结构 | 第13-14页 |
| 1.2.4 ZnO的本征缺陷 | 第14-15页 |
| 1.2.5 ZnO的发光性质 | 第15-16页 |
| 1.2.6 ZnO的电学性质 | 第16-18页 |
| 1.3 ZnO掺Ga（GZO）陶瓷的研究现状 | 第18-20页 |
| 1.3.1 GZO陶瓷的烧结方法 | 第18-19页 |
| 1.3.2 GZO陶瓷的研究现状 | 第19-20页 |
| 1.4 本论文的研究内容 | 第20-23页 |
| 第2章 GZO陶瓷制备及表征的方法与原理 | 第23-33页 |
| 2.1 GZO陶瓷的制备方法与原理 | 第23-27页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第23页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第23-24页 |
| 2.1.3 GZO陶瓷的制备 | 第24-27页 |
| 2.2 GZO陶瓷表征的方法与原理 | 第27-32页 |
| 2.2.1 X射线衍射 | 第27-28页 |
| 2.2.2 扫描电镜测试 | 第28-29页 |
| 2.2.3 霍尔效应测试 | 第29-30页 |
| 2.2.4 差热扫描量热法 | 第30页 |
| 2.2.5 光致荧光光谱测试 | 第30-31页 |
| 2.2.6 密度的测量 | 第31-32页 |
| 2.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 GZO陶瓷的制备工艺与性能测试 | 第33-51页 |
| 3.1 GZO陶瓷制备参数的拟定 | 第33-34页 |
| 3.2 烧结温度对GZO陶瓷性能的影响 | 第34-38页 |
| 3.2.1 烧结温度对GZO陶瓷物相结构的影响 | 第34-35页 |
| 3.2.2 烧结温度对GZO陶瓷密度的影响 | 第35页 |
| 3.2.3 烧结温度对GZO陶瓷断口形貌的影响 | 第35-36页 |
| 3.2.4 烧结温度对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第36-38页 |
| 3.3 烧结时间对GZO陶瓷性能的影响 | 第38-42页 |
| 3.3.1 烧结时间对GZO陶瓷物相结构的影响 | 第38-39页 |
| 3.3.2 烧结时间对GZO陶瓷密度的影响 | 第39-40页 |
| 3.3.3 烧结时间对GZO陶瓷断口形貌的影响 | 第40-41页 |
| 3.3.4 烧结时间对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第41-42页 |
| 3.4 升温速度对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第42-43页 |
| 3.5 退火对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第43-46页 |
| 3.5.1 氧气和氢气退火对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第43-44页 |
| 3.5.2 未退火和氧气退火对GZO陶瓷电学性能的影响 | 第44-46页 |
| 3.6 不同烧结条件对GZO陶瓷光致发光的影响 | 第46-47页 |
| 3.7 掺杂浓度对GZO陶瓷电学性能影响的分析 | 第47-48页 |
| 3.8 关于GZO陶瓷闪烁性能的研究 | 第48-50页 |
| 3.9 本章小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 攻读硕士学位期间申请的专利和发表的论文 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59页 |