| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第14-15页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第14页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外研究现状综述 | 第15-17页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 论文的结构与研究内容 | 第17-18页 |
| 第二章 自相关过程能力的介绍 | 第18-30页 |
| 2.1 过程能力分析与评价 | 第18-22页 |
| 2.1.1 过程能力的定义及应用价值 | 第18-19页 |
| 2.1.2 潜在过程能力指数Cp | 第19-20页 |
| 2.1.3 实际过程能力指数Cpk | 第20-22页 |
| 2.2 自相关过程的特点及相关模型 | 第22-25页 |
| 2.2.1 平稳时间序列 | 第22页 |
| 2.2.2 ARMA模型 | 第22-24页 |
| 2.2.3 模型识别 | 第24-25页 |
| 2.3 自相关特性对过程能力评价的影响 | 第25-28页 |
| 2.3.1 传统过程能力评价方法的前提条件 | 第25页 |
| 2.3.2 传统过程能力指数在自相关过程评价中的局限性 | 第25-26页 |
| 2.3.3 自相关工艺参数过程能力评价方法 | 第26-28页 |
| 2.4 小结 | 第28-30页 |
| 第三章 自相关过程能力计算及应用 | 第30-50页 |
| 3.1 过程参数分散性与过程能力指数 | 第30-34页 |
| 3.1.1 过程参数的规范要求 | 第30页 |
| 3.1.2 工艺过程参数分散性与工艺成品率 | 第30-32页 |
| 3.1.3 过程能力指数和不合格品率的关系 | 第32-34页 |
| 3.2 自相关序列的样本标准差分析 | 第34-41页 |
| 3.2.1 标准差的计算方法 | 第34-36页 |
| 3.2.2 标准差的模拟过程 | 第36-37页 |
| 3.2.3 分组均值法的探讨 | 第37-41页 |
| 3.3 过程能力指数的计算 | 第41-46页 |
| 3.3.1 计算Cp的4种方法 | 第41-44页 |
| 3.3.2 小样本 | 第44-45页 |
| 3.3.3 大样本 | 第45-46页 |
| 3.4 实际应用分析 | 第46-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 分组均值法的模拟与分析 | 第50-66页 |
| 4.1 两种典型分组法 | 第50-52页 |
| 4.1.1 NBM法 | 第50-51页 |
| 4.1.2 OBM法 | 第51-52页 |
| 4.2 正态性检验和独立性检验 | 第52-54页 |
| 4.2.1 正态性检验 | 第52-53页 |
| 4.2.2 独立性检验 | 第53-54页 |
| 4.3 卡方检验及置信区间的构建 | 第54-55页 |
| 4.4 分组均值法的模拟 | 第55-64页 |
| 4.4.1 AR(1)过程 | 第56-60页 |
| 4.4.2 ARMA过程 | 第60-64页 |
| 4.5 本章小节 | 第64-66页 |
| 第五章 自相关参数过程能力的置信区间分析 | 第66-80页 |
| 5.1 自相关过程能力的置信区间构建 | 第66-74页 |
| 5.1.1 区间构建的若干方法 | 第66-70页 |
| 5.1.2 应用分析 | 第70-74页 |
| 5.2 置信区间的影响因素 | 第74-76页 |
| 5.3 Zhang法中k值的讨论 | 第76-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 结束语 | 第80-82页 |
| 6.1 主要工作 | 第80-81页 |
| 6.2 后续与展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 作者简介 | 第86-87页 |