| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 主要符号对照表 | 第20-21页 |
| 第一章 宇宙线物理概述 | 第21-47页 |
| 1.1 宇宙线的发现 | 第21-23页 |
| 1.2 宇宙线的基本特征 | 第23-25页 |
| 1.2.1 宇宙线的成分 | 第23-24页 |
| 1.2.2 宇宙线的能谱 | 第24-25页 |
| 1.3 宇宙线物理核心问题 | 第25-30页 |
| 1.3.1 宇宙线的起源 | 第25-27页 |
| 1.3.2 宇宙线的加速 | 第27-30页 |
| 1.3.3 宇宙线的传播 | 第30页 |
| 1.4 宇宙线的观测 | 第30-38页 |
| 1.4.1 直接探测 | 第31页 |
| 1.4.2 间接探测 | 第31-38页 |
| 1.5 宇宙线探测实验 | 第38-47页 |
| 1.5.1 GLAST-LAT | 第38页 |
| 1.5.2 ARGO-YBJ实验 | 第38-39页 |
| 1.5.3 HESS实验 | 第39-41页 |
| 1.5.4 IceCube | 第41-42页 |
| 1.5.5 HAWC | 第42-44页 |
| 1.5.6 Pierre Auger Observatory | 第44-47页 |
| 第二章 LHAASO-WCDA和MD实验 | 第47-59页 |
| 2.1 LHAASO计划 | 第47-48页 |
| 2.1.1 LHAASO探测器布局 | 第47页 |
| 2.1.2 LHAASO计划的意义 | 第47-48页 |
| 2.2 LHAASO-WCDA实验 | 第48-53页 |
| 2.2.1 WCDA探测器结构 | 第49-50页 |
| 2.2.2 WCDA的优势 | 第50-51页 |
| 2.2.3 WCDA对大尺寸光电倍增管性能要求 | 第51-53页 |
| 2.3 LHAASO-MD实验 | 第53-57页 |
| 2.3.1 KM2A简介 | 第53-54页 |
| 2.3.2 缪子探测器(MD) | 第54-56页 |
| 2.3.3 LHAASO-MD光电倍增管特点 | 第56-57页 |
| 2.4 小结 | 第57-59页 |
| 第三章 WCDA大尺寸光电倍增管大动态范围读出设计 | 第59-97页 |
| 3.1 LHAASO-WCDA光电倍增管选型 | 第59-60页 |
| 3.1.1 光电倍增管介绍 | 第59页 |
| 3.1.2 WCDA光电倍增管选型 | 第59-60页 |
| 3.2 海南展创XP1805光电倍增管大动态范围读出电路设计 | 第60-65页 |
| 3.3 光电倍增管性能测试研究 | 第65-89页 |
| 3.3.1 单光电子谱和增益 | 第65-69页 |
| 3.3.2 高压响应 | 第69-70页 |
| 3.3.3 渡越时间分散 | 第70-73页 |
| 3.3.4 暗噪声 | 第73-74页 |
| 3.3.5 光电倍增管后脉冲研究 | 第74-85页 |
| 3.3.6 非线性 | 第85-89页 |
| 3.4 CR365/R5912大动态范围读出电路设计与性能测试 | 第89-94页 |
| 3.4.1 CR365/R5912大动态范围读出电路设计 | 第89-90页 |
| 3.4.2 北京滨松CR365光电倍增管性能测试 | 第90-93页 |
| 3.4.3 滨松R5912光电倍增管性能测试 | 第93-94页 |
| 3.5 各PMT性能参数测量结果汇总及小结 | 第94-97页 |
| 第四章 WCDA大尺寸光电倍增管的批量测试 | 第97-129页 |
| 4.1 LHAASO-WCDA对光电倍增管参数的要求 | 第97页 |
| 4.2 批量测试方法研究 | 第97-103页 |
| 4.2.1 老化与稳定性 | 第97-98页 |
| 4.2.2 高压响应 | 第98-99页 |
| 4.2.3 相对量子效率 | 第99-100页 |
| 4.2.4 后脉冲率 | 第100-103页 |
| 4.3 批量测试系统 | 第103-119页 |
| 4.3.1 暗箱 | 第103-105页 |
| 4.3.2 光源系统 | 第105-109页 |
| 4.3.3 高压系统 | 第109-110页 |
| 4.3.4 信号处理系统 | 第110-115页 |
| 4.3.5 触发系统 | 第115-116页 |
| 4.3.6 基于LABVIEW的软件控制系统 | 第116-119页 |
| 4.3.7 性能参数数据库 | 第119页 |
| 4.4 性能指标批量测试方案及结果 | 第119-125页 |
| 4.4.1 增益及高压响应曲线测试 | 第119-121页 |
| 4.4.2 单光电子测量 | 第121页 |
| 4.4.3 暗噪声计数率测试 | 第121-122页 |
| 4.4.4 后脉冲率测试 | 第122页 |
| 4.4.5 非线性测试 | 第122-125页 |
| 4.5 批量测试精度研究 | 第125页 |
| 4.6 小批量测试结果 | 第125页 |
| 4.7 小结 | 第125-129页 |
| 第五章 MD大尺寸光电倍增管大动态范围读出设计与批量测试 | 第129-141页 |
| 5.1 LHAASO-MD对PMT性能指标要求 | 第129页 |
| 5.2 MD光电倍增管R5912大动态范围读出电路设计与性能测试 | 第129-135页 |
| 5.2.1 初步设计 | 第129-133页 |
| 5.2.2 改进设计 | 第133-135页 |
| 5.2.3 进一步验证 | 第135页 |
| 5.3 MD光电倍增管XP1805大动态范围读出电路设计与性能测试 | 第135-137页 |
| 5.4 MD大尺寸光电倍增管批量测试方案 | 第137-140页 |
| 5.4.1 LHAASO-MD对光电倍增管参数的要求 | 第137页 |
| 5.4.2 MD光电倍增管批量测试系统 | 第137-139页 |
| 5.4.3 MD光电倍增管性能指标批量测试方案 | 第139-140页 |
| 5.5 小结 | 第140-141页 |
| 第六章 总结和展望 | 第141-143页 |
| 参考文献 | 第143-147页 |
| 致谢 | 第147-149页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第149页 |
