| 摘要 | 第1-25页 |
| Abstract | 第25-27页 |
| 符号和缩略词 | 第27-28页 |
| 第一章 引言 | 第28-44页 |
| ·粒子物理学 | 第28-30页 |
| ·标准模型 | 第28-29页 |
| ·量子色动力学 | 第29-30页 |
| ·轻强子物理 | 第30-37页 |
| ·强子态 | 第30-32页 |
| ·粲偶素家族和J/ψ衰变 | 第32-36页 |
| ·η'衰变 | 第36-37页 |
| ·论文选题的物理思想和论文结构 | 第37-44页 |
| ·选题背景及意义 | 第37-41页 |
| ·论文选题 | 第41-42页 |
| ·论文结构 | 第42-44页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机Ⅱ(BEPCⅡ)和北京谱仪Ⅲ(BESⅢ) | 第44-54页 |
| ·北京正负电子对撞机 | 第44-45页 |
| ·北京谱仪 | 第45-50页 |
| ·主漂移室 | 第46-48页 |
| ·飞行时间计数器 | 第48-49页 |
| ·电磁量能器 | 第49页 |
| ·超导磁体 | 第49-50页 |
| ·μ子探测器 | 第50页 |
| ·在线数据获取系统 | 第50页 |
| ·BESⅢ离线软件系统 | 第50-53页 |
| ·BESⅢ离线刻度和离线事例重建系统 | 第51-52页 |
| ·BESⅢ的事例产生子 | 第52-53页 |
| ·BESⅢ物理分析软件 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第三章 J/ψ→γ3(π~+π~-)衰变过程中X(1840)谱形的研究 | 第54-86页 |
| ·J/ψ→γ3(π~++π~-)的事例选择 | 第54-56页 |
| ·径迹的选择标准 | 第54-55页 |
| ·事例选择 | 第55-56页 |
| ·本底分析 | 第56-63页 |
| ·相空间MC样本和探测效率 | 第57-58页 |
| ·J/ψ的单举衰变MC样本 | 第58-59页 |
| ·J/ψ→π~03(π~+π~-)的分析 | 第59-60页 |
| ·末态粒子中含有K_S~0K~S~0的本底 | 第60-61页 |
| ·末态粒子中含有非π~±的本底 | 第61-63页 |
| ·3(π~+π~-)不变质量谱的拟合 | 第63-70页 |
| ·拟合函数的构造 | 第63-64页 |
| ·质量谱拟合 | 第64-70页 |
| ·光子角分布的初步研究 | 第70-72页 |
| ·π~+π~-,π~+π~-π~+π~-和π~+π~+π~-(π~-π~-π~+)不变质量谱 | 第72页 |
| ·多解的检查 | 第72-79页 |
| ·系统误差分析 | 第79-83页 |
| ·带电径迹的重建效率 | 第79页 |
| ·光子的探测效率 | 第79页 |
| ·4C运动学拟合 | 第79-80页 |
| ·本底形状 | 第80-81页 |
| ·Monte Carlo模型 | 第81页 |
| ·Monte Carlo的统计涨落 | 第81-82页 |
| ·质量分辨率的误差 | 第82页 |
| ·J/ψ总数 | 第82页 |
| ·系统误差总结 | 第82-83页 |
| ·本章小结 | 第83-86页 |
| 第四章 η'→γπ~+π~-衰变机制的研究 | 第86-130页 |
| ·事例选择 | 第86-88页 |
| ·角分布的检查 | 第88页 |
| ·本底分析 | 第88页 |
| ·η'质量sideband | 第88页 |
| ·J/ψ的单举衰变MC样本 | 第88页 |
| ·修正 π~+π~-不变质量谱 | 第88-92页 |
| ·探测效率 | 第90页 |
| ·质量分辨和质量刻度 | 第90-92页 |
| ·π~+π~-不变质量谱的拟合 | 第92-100页 |
| ·模型依赖的拟合 | 第92-99页 |
| ·模型无关的拟合 | 第99-100页 |
| ·系统误差研究 | 第100-120页 |
| ·模型依赖拟合的系统误差 | 第100-118页 |
| ·分支比测量的系统误差 | 第118页 |
| ·模型无关拟合的系统误差 | 第118-120页 |
| ·输入输出检查 | 第120页 |
| ·对模型依赖拟合的多解检查 | 第120-127页 |
| ·本章小结 | 第127-130页 |
| 第五章 η'→π~+π~-l~+l~-(l=e,μ)分支比的测量 | 第130-150页 |
| ·事例选择 | 第130-131页 |
| ·η'→π~+π~-e~+e~-分析 | 第131-137页 |
| ·本底分析 | 第131-133页 |
| ·e~+e~-不变质量谱的拟合 | 第133-134页 |
| ·末态粒子的其他物理量的检查 | 第134-137页 |
| ·η'→π~+π~+μ~+μ~-分析 | 第137-138页 |
| ·本底分析 | 第137页 |
| ·π~+π~-μ~+μ~-不变质量谱的拟合 | 第137-138页 |
| ·利用η'→γπ~+π~-衰变模式,对J/φ→γη'分支比进行测量 | 第138-141页 |
| ·事例选择 | 第138-139页 |
| ·本底分析 | 第139页 |
| ·γπ~+π~-不变质量谱的拟合 | 第139-140页 |
| ·J/ψ→γη'分支比的测量 | 第140-141页 |
| ·η'→π~+π~-l~+l~-,(l~±=e~±,μ~±)分支比的测量 | 第141页 |
| ·系统误差研究 | 第141-147页 |
| ·MDC径迹重建 | 第142页 |
| ·光子的重建效率 | 第142页 |
| ·粒子鉴别(PID) | 第142-143页 |
| ·4C运动学拟合 | 第143-145页 |
| ·本底的形状 | 第145页 |
| ·形状因子的不确定性 | 第145-146页 |
| ·η'质量窗选择条件 | 第146页 |
| ·N_(η'→π~+π~-)的不确定性 | 第146页 |
| ·系统误差总结 | 第146-147页 |
| ·本章小结 | 第147-150页 |
| 第六章 总结与展望 | 第150-154页 |
| 参考文献 | 第154-160页 |
| 致谢 | 第160-162页 |
| 发表文章目录 | 第162页 |
| 国际会议报告 | 第162页 |
| 获奖情况 | 第162-163页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第163页 |
