| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·课题背景及意义 | 第9页 |
| ·Ti0_2 半导体光催化机理 | 第9-11页 |
| ·半导体光催化技术的应用 | 第11-13页 |
| ·光催化降解污染物 | 第11-12页 |
| ·光催化分解水制氢 | 第12页 |
| ·光催化在卫生和医学上的应用 | 第12-13页 |
| ·Ti0_2 光催化材料的改性方法 | 第13-17页 |
| ·元素掺杂 | 第13-14页 |
| ·半导体复合 | 第14-15页 |
| ·Ti0_2 的光敏化 | 第15-16页 |
| ·贵金属纳米颗粒沉积 | 第16-17页 |
| ·球形二氧化钛的制备现状 | 第17-19页 |
| ·球型二氧化钛的发展状况 | 第17页 |
| ·合成方法 | 第17-19页 |
| ·课题研究内容 | 第19-20页 |
| 第2章 实验材料及其实验方法 | 第20-25页 |
| ·实验材料及仪器设备 | 第20-21页 |
| ·主要化学试剂 | 第20页 |
| ·主要仪器设备 | 第20-21页 |
| ·实验方法 | 第21-22页 |
| ·水热法 | 第21页 |
| ·光致还原 | 第21-22页 |
| ·样品性能表征 | 第22-25页 |
| ·扫描电子显微镜及能谱分析（SEM-EDS） | 第22页 |
| ·透射电子显微镜分析（TEM） | 第22页 |
| ·X 射线衍射分析（XRD） | 第22页 |
| ·X 射线光电子能谱（XPS） | 第22页 |
| ·紫外-可将漫反射光谱分析（UV-vis） | 第22-23页 |
| ·光催化降解测试 | 第23-25页 |
| 第3章 球形Ag/Ti0_2的制备与光催化性能研究 | 第25-42页 |
| ·引言 | 第25-26页 |
| ·浸渍-光致还原法制备球形Ag/Ti0_2(Ⅰ)及性能表征 | 第26-31页 |
| ·球形Ti0_2 的制备方法 | 第26-28页 |
| ·浸渍-光致还原制备球形Ag/Ti0_2(Ⅰ) | 第28-31页 |
| ·水热法制备球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的表征分析 | 第31-40页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的形貌和组分分析 | 第32-33页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的物相分析 | 第33-35页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的XPS 分析 | 第35-36页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的TEM 分析 | 第36-38页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的紫外漫反射分析 | 第38-39页 |
| ·球形Ag/Ti0_2(Ⅱ)的光催化性能表征 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 Ag_3P0_4/Ti0_2薄膜的制备与光催化性能 | 第42-55页 |
| ·前言 | 第42页 |
| ·Ti0_2 微球薄膜的制备 | 第42-49页 |
| ·反应温度对薄膜形貌的影响 | 第43-44页 |
| ·HF 酸浓度对薄膜形貌的影响 | 第44-45页 |
| ·反应时间对薄膜形貌的影响 | 第45页 |
| ·烧结温度对薄膜催化性能的影响 | 第45-46页 |
| ·烧结对薄膜相组成的影响 | 第46-47页 |
| ·不同温度下薄膜的紫外-漫反射图谱 | 第47-48页 |
| ·烧结温度对薄膜光催化性能的影响 | 第48-49页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜的制备 | 第49-54页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜表面形貌及组分分析 | 第49-50页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜相成分分析 | 第50-51页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜的XPS 分析 | 第51-52页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜紫外-漫反射分析 | 第52-53页 |
| ·Ag_3P0_4/Ti0_2 薄膜光催化性能表征 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
