| 作者简介 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| CHAPTER 1 INTRODUCTION | 第11-43页 |
| ·BACKGROUND | 第11-12页 |
| ·RESEARCH SUMMARY OF DOMESTIC AND FOREIGN | 第12-32页 |
| ·Computer Vision-based fabric defect detection: A Survey | 第12-22页 |
| ·Objective evaluation of fabric pilling | 第22-28页 |
| ·Automatic Recognition and Classification of Woven Fabric’ Structure | 第28-32页 |
| REFERENCES IN THE FIRST CHAPTER | 第32-43页 |
| CHAPTER 2 COMBINED FABRIC DEFECTS DETECTION APPROACH AND QUADTREE DECOMPOSITION | 第43-63页 |
| ·INTRODUCTION | 第43-44页 |
| ·EXPERIMENTAL APPROACH AND RESULTS GABOR-GAUSS | 第44-49页 |
| ·Improved Gabor function | 第44-46页 |
| ·Selection of optimal function filter | 第46页 |
| ·Image binarization | 第46-49页 |
| ·BACKGROUND ANALYSIS APPROACH | 第49-50页 |
| ·MULTI-SCALE WAVELET METHOD | 第50-52页 |
| ·COMPREHENSIVE ANALYSIS AND QUADTREE DECOMPOSITION | 第52-58页 |
| ·Position locating | 第53-58页 |
| ·GRAPHICAL USER INTERFACE DESIGN | 第58-59页 |
| ·DISCUSSION | 第59页 |
| ·CONCLUSION | 第59-60页 |
| REFERENCES IN THE SECOND CHAPTER | 第60-63页 |
| CHAPTER 3 FABRIC DEFECT CLASSIFICATION BASED ON LOCAL BINARY PATTERNS AND TAMURA METHOD | 第63-77页 |
| ·INTRODUCTION | 第63-64页 |
| ·DEFECT CLASSIFICATION BASED ON TAMURA METHOD AND LOCAL BINARY PATTERNS | 第64-68页 |
| ·Tamura Method | 第64-66页 |
| ·Local Binary Patterns | 第66-68页 |
| ·CONJUGATE GRADIENT BP ALGORITHM | 第68-69页 |
| ·EXPERIMENTS AND ANALYSIS | 第69-73页 |
| ·CONCLUSIONS | 第73页 |
| REFERENCES IN THE THIRD CHAPTER | 第73-77页 |
| CHAPTER 4 DEFECT DETECTION ON PRINTED FABRICS | 第77-119页 |
| ·INTRODUCTION | 第77-82页 |
| ·REGULAR PATTERNED FABRIC DEFECT DETECTION METHOD USING MODIFIED REGULAR BAND | 第82-97页 |
| ·Modified Regular Band | 第82-87页 |
| ·Preprocessing on patterned fabrics | 第82页 |
| ·Modified regular band algorithm | 第82-87页 |
| ·Defect segmentation | 第87-88页 |
| ·Threshold calculation | 第87-88页 |
| ·Binarization | 第88页 |
| ·Experimental results | 第88-96页 |
| ·Feasibility of modified regular band | 第89-90页 |
| ·Influence of selecting m and n | 第90-92页 |
| ·Detection time | 第92页 |
| ·The statistics of detection results | 第92页 |
| ·Patterned detection results of various defects | 第92-96页 |
| ·Conclusion | 第96-97页 |
| ·SUPERVISED DEFECT DETECTION ON IRREGULAR PRINTED FABRICS VIA OPTIMAL GABOR FILTER | 第97-113页 |
| ·Gabor function | 第97-98页 |
| ·Structure optimal Gabor filters and flaws detection | 第98-104页 |
| ·Select proper Gabor function | 第98-99页 |
| ·Determine optimal Gabor filter parameters | 第99-100页 |
| ·Genetic algorithm | 第100-103页 |
| ·Filtering an image with optimal Gabor filter | 第103页 |
| ·Binarization in filtered images | 第103-104页 |
| ·Experimental results | 第104-112页 |
| ·Conclusion | 第112-113页 |
| REFERENCES IN THE FOURTH CHAPTER | 第113-119页 |
| CHAPTER 5 OBJECTIVE EVALUATION OF FABRIC PILLING BASED ON WAVELET TRANSFORM AND LBP | 第119-133页 |
| ·INTRODUCTION | 第119-120页 |
| ·TWO-DIMENSIONAL DISCRETE WAVELET TRANSFORM | 第120-121页 |
| ·LOCAL BINARY PATTERN | 第121-123页 |
| ·The Basic LBP Operator | 第121-122页 |
| ·Circular neighborhood LBPP, R operator | 第122-123页 |
| ·EXPERIMENT | 第123-131页 |
| ·Method | 第123-124页 |
| ·Sample Preparation | 第124-125页 |
| ·Image transformation | 第125-126页 |
| ·Wavelet Feature Extraction | 第126页 |
| ·LBP Feature Extraction | 第126-127页 |
| ·Pilling Evaluation Using SVM | 第127-131页 |
| ·CONCLUSION | 第131页 |
| REFERENCES IN THE FIFTH CHAPTER | 第131-133页 |
| CHAPTER 6 AUTOMATIC RECOGNITION AND CLASSIFICATION OF WOVEN FABRIC BASED ON IMAGE PROCESSING | 第133-149页 |
| ·INTRODUCTION | 第133-142页 |
| ·Capture and pre-process of woven fabric image | 第135-136页 |
| ·Texture feature extraction with GLCM and Gabor wavelet | 第136-140页 |
| ·Classification | 第140-142页 |
| ·EXPERIMENTAL RESULTS | 第142-145页 |
| ·CONCLUSION | 第145页 |
| REFERENCES IN THE SIXTH CHAPTER | 第145-149页 |
| CHAPTER 7 CONCLUSIONS AND FUTURE WORKS | 第149-153页 |
| ·CONCLUSIONS | 第149-151页 |
| ·FUTURE WORKS | 第151-153页 |
| Acknowledgements | 第153-155页 |
| RESEARCH ACHIEVEMENT | 第155-159页 |
| FINISHED JOURNAL PAPERS | 第155-156页 |
| FINISHED CONFERENCE PAPERS | 第156-157页 |
| FINISHED PATENTS | 第157-159页 |
| TO PARTICIPATE IN RESEARCH PROJECTS | 第159-160页 |
