| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究进展 | 第10-13页 |
| ·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 MESFET 微波功率器件瞬态温度响应的原理 | 第15-23页 |
| ·MESFET 微波功率器件结温和热阻概念 | 第15-16页 |
| ·基于电学法的 MESFET 微波功率器件热阻测量原理 | 第16-18页 |
| ·结构函数法的理论分析和意义 | 第18-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第3章 MESFET 热阻测试仪系统的开发 | 第23-39页 |
| ·开发背景和目的 | 第23页 |
| ·MESFET 热阻测试仪的总体构架 | 第23-27页 |
| ·硬件系统架构 | 第23-25页 |
| ·软件系统的开发 | 第25-27页 |
| ·用户操作界面的设计与开发 | 第27-34页 |
| ·软件开发环境 | 第27-28页 |
| ·类的定义和接口函数介绍 | 第28-29页 |
| ·功能框架和操作界面设计 | 第29-34页 |
| ·出错信息和处理办法 | 第34页 |
| ·硬件驱动程序的开发 | 第34-35页 |
| ·数据的采集与处理 | 第35-37页 |
| ·双线程技术的设计 | 第35-36页 |
| ·采集板采集 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 MESFET 热阻测试仪系统的优化设计 | 第39-53页 |
| ·结电压采集算法的改进 | 第39-40页 |
| ·纳秒级冷却响应曲线的研究 | 第40-43页 |
| ·数据的一次性大量采集 | 第43-45页 |
| ·采集时序优化与改进 | 第45-49页 |
| ·恒压模式和恒功率模式算法 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第5章 大温度范围下 AlGaAs/GaAs HEMT 结构热阻变化的测量和分析 | 第53-63页 |
| ·HEMT 结构热阻的背景与意义 | 第53-54页 |
| ·AlGaAs/GaAs HEMT 器件结构和工作原理 | 第54-55页 |
| ·温度系数的测量 | 第55-57页 |
| ·大温度范围下 HEMT 结构热阻的测量 | 第57-60页 |
| ·试验平台 | 第57-60页 |
| ·结构热阻测量和结果 | 第60页 |
| ·HEMT 结构热阻随温度变化的分析 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 总结和展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间的学术成果 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 附录 | 第73-76页 |
