| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景及研究目的和意义 | 第10页 |
| ·黑体辐射特性评估理论 | 第10-12页 |
| ·面源黑体校准技术的国内外研究现状 | 第12-16页 |
| ·常温面源黑体的校准方法 | 第13-14页 |
| ·中温面源黑体的校准方法 | 第14-15页 |
| ·面源黑体校准方法总结 | 第15-16页 |
| ·本课题的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 黑体及发射率传递数学模型建立 | 第17-25页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·黑体 | 第17-21页 |
| ·黑体三大基本定律 | 第17-18页 |
| ·黑体发射率 | 第18页 |
| ·黑体的分类 | 第18-19页 |
| ·低温黑体 | 第19-21页 |
| ·发射率传递数学模型 | 第21-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 系统总体方案及硬件设计 | 第25-41页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·技术指标及总体方案设计 | 第25-26页 |
| ·技术指标要求 | 第25页 |
| ·总体方案设计 | 第25-26页 |
| ·光学系统的设计 | 第26-28页 |
| ·光学系统结构设计 | 第26-27页 |
| ·消除杂散辐射设计 | 第27-28页 |
| ·调制盘的设计 | 第28-29页 |
| ·红外探测器 | 第29-33页 |
| ·红外探测器的分类 | 第29-30页 |
| ·红外探测器的性能指标 | 第30-31页 |
| ·碲镉汞红外探测器的选用 | 第31-33页 |
| ·放大电路设计 | 第33-38页 |
| ·前置放大电路的设计 | 第33-35页 |
| ·锁相放大电路的设计 | 第35-38页 |
| ·模/数转换电路 | 第38页 |
| ·量程控制电路 | 第38-40页 |
| ·电路抗干扰措施 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 软件系统设计 | 第41-54页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·微弱信号检测 | 第41页 |
| ·编程语言的选择 | 第41-42页 |
| ·锁相放大器参数计算程序的设计 | 第42-44页 |
| ·带通滤波器参数计算程序 | 第42-43页 |
| ·移相电路参数计算程序 | 第43-44页 |
| ·比较仪系统上位机软件设计 | 第44-52页 |
| ·软件设计要求 | 第45页 |
| ·软件系统总体设计 | 第45-47页 |
| ·数据采集程序 | 第47-49页 |
| ·串口通讯程序 | 第49页 |
| ·量程选择程序 | 第49-51页 |
| ·数据保存程序 | 第51页 |
| ·发射率传递程序 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第5章 实验结果及不确定度分析 | 第54-62页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·中红外能量比较系统性能测试实验 | 第54-56页 |
| ·重复性测试 | 第54-55页 |
| ·稳定性测试 | 第55-56页 |
| ·发射率传递实验 | 第56-57页 |
| ·不确定度评定 | 第57-59页 |
| ·标准不确定度评定 | 第57-58页 |
| ·合成不确定度评定 | 第58-59页 |
| ·发射率传递不确定度分析 | 第59-61页 |
| ·标准空腔黑体发射率引入的不确定度u_1 | 第60页 |
| ·黑体辐射量重复性测量引入的不确定度u_2， u_3 | 第60-61页 |
| ·系统不确定度合成 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70页 |