| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·集成温度传感器 | 第9-11页 |
| ·集成温度传感器与传统温度传感器比较 | 第9-10页 |
| ·模拟集成温度传感器的输出类型 | 第10-11页 |
| ·国内外关于 CMOS 集成温度传感器的研究动态 | 第11页 |
| ·论文研究的目的及意义 | 第11-12页 |
| ·论文的内容安排 | 第12-13页 |
| 第二章 双极型晶体管的基本特性 | 第13-19页 |
| ·双极性晶体管的基本物理特性 | 第13-16页 |
| ·双极性晶体管的基本符号 | 第13-14页 |
| ·IE-VBE的理想特性 | 第14页 |
| ·IC-VBE的非理想特性 | 第14-15页 |
| ·IE-VBE非理想特性 | 第15-16页 |
| ·双极型晶体管在 CMOS 工艺下的实现 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 带隙基准电路设计及实现 | 第19-43页 |
| ·低噪声、低失调斩波运放 | 第19-24页 |
| ·采用低噪声、低失调技术背景 | 第19页 |
| ·常用的减小失调及 1/f 噪声的主要方法及优缺点 | 第19-20页 |
| ·动态失调消除技术 | 第20-24页 |
| ·低噪声、低失调运放电路设计及实现 | 第24-28页 |
| ·运放整体电路结构 | 第24-25页 |
| ·斩波器以及非交叠时钟电路实现 | 第25-27页 |
| ·低通滤波器以及电路的降噪处理 | 第27页 |
| ·斩波频率的选择 | 第27-28页 |
| ·运放输入失调对输出的影响 | 第28-29页 |
| ·电阻的选择 | 第29页 |
| ·电流模带隙基准源基本原理及电路实现 | 第29-33页 |
| ·传统结构的带隙基准源 | 第30-31页 |
| ·低压低失调 CMOS 带隙基准源基本原理 | 第31-32页 |
| ·带隙基准核心电路设计实现 | 第32-33页 |
| ·启动电路设计实现 | 第33页 |
| ·电流模基准电路相关参数仿真 | 第33-42页 |
| ·PNP 管 Vbe 与电流之间的关系 | 第33-34页 |
| ·VBE 的温度特性 | 第34-35页 |
| ·电阻温度系数 | 第35-36页 |
| ·基准电压温度系数 | 第36页 |
| ·基准电压的电压系数 | 第36-37页 |
| ·运放的开环增益及相位裕度仿真 | 第37-38页 |
| ·基准电压的电源电压抑制比(PSRR) | 第38-39页 |
| ·电路噪声分析 | 第39-41页 |
| ·输出基准电压 VREF瞬态特性 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 CMOS 温度传感器电路设计与实现 | 第43-61页 |
| ·PTAT 电路设计与实现 | 第43-45页 |
| ·迟滞电压比较器基本原理及电路实现 | 第45-48页 |
| ·比较器的基本特点 | 第45页 |
| ·迟滞比较器 | 第45-48页 |
| ·温度传感器中的数字模块设计 | 第48-51页 |
| ·3-8 译码器设计 | 第48-49页 |
| ·时序逻辑控制电路 | 第49-50页 |
| ·分频器设计 | 第50-51页 |
| ·温度传感器整体电路仿真 | 第51-60页 |
| ·温度传感器性能参数指标 | 第51-52页 |
| ·温度传感器整体电路图 | 第52页 |
| ·VPTAT 电路中运放增益及相位裕度仿真 | 第52-53页 |
| ·VPTAT 电路中运放的电源抑制比仿真 | 第53-54页 |
| ·PTAT 电路正温度系数仿真 | 第54页 |
| ·非交叠时钟产生电路仿真 | 第54-55页 |
| ·迟滞比较器迟滞量及分辨率仿真 | 第55-57页 |
| ·高低温报警阈值仿真 | 第57-59页 |
| ·自检时序仿真 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 版图设计及流片验证 | 第61-73页 |
| ·版图设计中的匹配规则 | 第61-64页 |
| ·MOS 管的匹配 | 第61-62页 |
| ·电阻的匹配 | 第62-63页 |
| ·双极性晶体管匹配原则 | 第63-64页 |
| ·版图设计中应注意的寄生效应 | 第64-65页 |
| ·寄生电容 | 第64-65页 |
| ·闩锁效应 | 第65页 |
| ·温度传感器电路的版图实现 | 第65-66页 |
| ·流片测试及结果分析 | 第66-71页 |
| ·芯片封装管脚说明以及封装示意图 | 第66-67页 |
| ·基准电压测试 | 第67-69页 |
| ·高低温报警阈值测试 | 第69-70页 |
| ·整体芯片功耗测试 | 第70-71页 |
| ·核心参数与设计指标对照 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| ·总结 | 第73页 |
| ·展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |