| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题的背景和意义 | 第7-8页 |
| ·DSP 和 FPGA 在测试系统中的优点 | 第8-9页 |
| ·嵌入式测试系统概述 | 第9-10页 |
| ·论文的主要工作 | 第10-11页 |
| 第二章 测试系统的设计方案和硬件实现 | 第11-33页 |
| ·测试系统设计方案 | 第11-12页 |
| ·DSP 模块 | 第12-14页 |
| ·模拟输入输出模块 | 第14-18页 |
| ·ADC 模拟输入模块 | 第14-17页 |
| ·DAC 任意波形发生器模块 | 第17-18页 |
| ·通信接口模块设计 | 第18-24页 |
| ·UART 总线接口模块 | 第18-20页 |
| ·ARINC429 总线接口模块 | 第20-21页 |
| ·CAN 总线接口模块 | 第21-23页 |
| ·USB 总线接口模块 | 第23-24页 |
| ·数字 IO 模块 | 第24-25页 |
| ·NAND FLASH 存储模块 | 第25-26页 |
| ·按键和 LCD 显示模块 | 第26-27页 |
| ·RTC 模块 | 第27-28页 |
| ·时钟设计 | 第28-29页 |
| ·电源设计 | 第29-30页 |
| ·测试系统板卡图 | 第30-33页 |
| 第三章 测试系统软件设计 | 第33-53页 |
| ·CCS3.3 开发环境介绍 | 第33-37页 |
| ·CCS3.3 代码生成工具 | 第34-35页 |
| ·DSP/BIOS 实时操作系统简介 | 第35-36页 |
| ·DSP 系统开发 | 第36-37页 |
| ·DSP/BIOS 线程介绍及其线程调度 | 第37-42页 |
| ·DSP/BIOS 线程介绍 | 第38-41页 |
| ·DSP/BIOS 线程通信和同步 | 第41-42页 |
| ·FPGA 模块设计 | 第42-44页 |
| ·DSP 与 FPGA 间的接口协议 | 第42-43页 |
| ·FPGA 内部接口设计 | 第43-44页 |
| ·DSP 驱动程序设计和中断设计 | 第44-51页 |
| ·ADC 模数转换驱动程序设计 | 第45-46页 |
| ·UART 通信模块驱动程序设计 | 第46-47页 |
| ·CAN 模块驱动程序设计 | 第47-49页 |
| ·LCD 图形界面驱动程序设计 | 第49-50页 |
| ·DSP 中断设计 | 第50-51页 |
| ·DSP 应用程序设计 | 第51-53页 |
| 第四章 YAFFS 文件系统在测试系统中的移植和应用 | 第53-61页 |
| ·NAND FlASH 介绍 | 第53-55页 |
| ·NAND FLASH 器件综述 | 第53-54页 |
| ·NAND FLASH 的可靠性 | 第54页 |
| ·NAND FLASH 文件系统的必要性 | 第54-55页 |
| ·YAFFS 文件系统介绍 | 第55-57页 |
| ·文件系统 | 第55-56页 |
| ·YAFFS 文件系统 | 第56-57页 |
| ·YAFFS 文件系统在测试系统中的移植 | 第57-59页 |
| ·YAFFS 文件系统在测试系统中的应用 | 第59-61页 |
| 第五章 测试系统测试 | 第61-73页 |
| ·测试应用程序 | 第61-67页 |
| ·测试应用程序基本结构 | 第61页 |
| ·测试应用程序的开发过程 | 第61-64页 |
| ·测试分析及结果 | 第64-67页 |
| ·其他子模块测试 | 第67-73页 |
| ·USB 模块测试 | 第67-69页 |
| ·NAND FLASH 模块测试 | 第69-71页 |
| ·ARINC429 模块测试 | 第71-73页 |
| 总结和展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 攻读学位期间参加科研和发表论文情况 | 第79-80页 |