| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·高压物理学简介 | 第11页 |
| ·高压实验装置简介 | 第11-15页 |
| ·高压实验装置分类 | 第12-14页 |
| ·金刚石对顶砧简介及应用 | 第14-15页 |
| ·高压电学技术的进展、应用及意义 | 第15-16页 |
| ·高压电学技术的进展 | 第15页 |
| ·高压电学技术的应用 | 第15-16页 |
| ·高压电学研究的意义 | 第16页 |
| ·论文选题目的和意义 | 第16-17页 |
| ·论文各部分主要内容 | 第17-18页 |
| 第二章 高压原位电学测量技术 | 第18-29页 |
| ·测量微电路在金刚石对顶砧上的集成 | 第18-23页 |
| ·金属钼薄膜的溅射 | 第18-19页 |
| ·金属钼薄膜的图形化 | 第19-20页 |
| ·氧化铝绝缘保护层的形成 | 第20-22页 |
| ·样品的组装 | 第22-23页 |
| ·高压原位电阻率测量 | 第23-26页 |
| ·范德堡方法简介 | 第23-24页 |
| ·高压原位电阻率测量原理 | 第24-26页 |
| ·高压交流阻抗谱测量 | 第26-28页 |
| ·交流阻抗谱法原理 | 第26-28页 |
| ·交流阻抗谱的表示方法 | 第28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 高压下 CoSb_3的电阻率及等结构相变的研究 | 第29-38页 |
| ·高压下 CoSb_3的研究背景 | 第29-31页 |
| ·CoSb_3样品的来源 | 第31-33页 |
| ·高压下 CoSb_3的电阻率测量 | 第33-37页 |
| ·电极导电性测试 | 第33-36页 |
| ·高压下 CoSb_3电阻率的测量 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 CoSb_3的理论研究 | 第38-44页 |
| ·理论研究基础 | 第38页 |
| ·CoSb_3理论模型及参数设置 | 第38-39页 |
| ·常压下 CoSb_3的能带结构和态密度 | 第39-40页 |
| ·高压下 CoSb_3的能带结构和态密度 | 第40-42页 |
| ·理论研究与实验结果讨论 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 高压下 SmFeO_3的电学性质 | 第44-47页 |
| ·SmFeO_3的研究背景 | 第44页 |
| ·SmFeO_3的高压阻抗谱研究 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第六章 总结与展望 | 第47-49页 |
| ·总结 | 第47-48页 |
| ·展望 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-55页 |
| 作者简介 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |