大容量缓存压缩装置的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第8-10页 |
| ·大容量缓存技术与压缩技术概述 | 第10-12页 |
| ·大容量缓存技术概述 | 第10页 |
| ·压缩技术概述 | 第10-12页 |
| ·本文的内容及结构安排 | 第12-14页 |
| 2 大容量缓存技术与压缩技术方案设计 | 第14-33页 |
| ·存储器概述 | 第14-15页 |
| ·存储器的分类及技术指标 | 第14页 |
| ·存储芯片的选型 | 第14-15页 |
| ·IS42S16160B 芯片 | 第15-26页 |
| ·芯片简介 | 第15页 |
| ·芯片引脚与基本结构 | 第15-18页 |
| ·芯片操作与工作时序 | 第18-26页 |
| ·压缩芯片概述 | 第26-32页 |
| ·软件压缩和硬件压缩 | 第26-27页 |
| ·芯片简介与基本结构 | 第27-29页 |
| ·芯片工作原理 | 第29页 |
| ·芯片初始化工作时序 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 3 硬件电路的设计与实现 | 第33-38页 |
| ·电源部分设计 | 第33-34页 |
| ·缓存压缩单元设计 | 第34-36页 |
| ·PCB 布局布线设计 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 4 VHDL 程序设计 | 第38-56页 |
| ·FPGA 选型 | 第38-39页 |
| ·缓存单元程序设计 | 第39-47页 |
| ·结构体的多进程通信 | 第43-44页 |
| ·关键进程 VHDL 代码及仿真结果 | 第44-47页 |
| ·压缩单元程序设计 | 第47-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 5 系统功能测试与可靠性分析 | 第56-61页 |
| ·测试系统概述 | 第56页 |
| ·系统功能测试 | 第56-60页 |
| ·缓存单元功能测试 | 第56-59页 |
| ·压缩单元功能测试 | 第59-60页 |
| ·可靠性分析 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 6 总结与展望 | 第61-63页 |
| ·工作总结 | 第61页 |
| ·展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
