X射线荧光光谱法测定土壤样品中的24种主、次量及痕量元素
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-25页 |
| ·课题背景 | 第9-11页 |
| ·地球化学勘查 | 第9页 |
| ·研究现状 | 第9-11页 |
| ·岩矿测试分析常用方法及基本原理 | 第11-15页 |
| ·经典方法（重量法和容量法） | 第11-12页 |
| ·原子荧光光谱（AFS）法 | 第12页 |
| ·原子吸收光谱（AAS）法 | 第12-13页 |
| ·电感耦合等离子体质谱（ICP‐MS）法 | 第13-14页 |
| ·电感耦合等离子体发射光谱(ICP‐OES)法 | 第14页 |
| ·X 射线荧光光谱（XRF）法 | 第14-15页 |
| ·X 射线荧光光谱 | 第15-19页 |
| ·X 射线荧光光谱（XRF）分析法基本原理 | 第15-16页 |
| ·X 射线荧光光谱分析法（XRF）的特点 | 第16-17页 |
| ·X 射线荧光分析的应用领域 | 第17-18页 |
| ·X 射线荧光光谱仪 | 第18-19页 |
| ·X 射线荧光分析仪的组成及工作原理 | 第19-24页 |
| ·X 射线荧光分析仪的组成 | 第19-20页 |
| ·X 射线荧光分析仪的工作原理 | 第20-24页 |
| ·论文主要研究内容及工作 | 第24页 |
| ·论文的研究目的和意义 | 第24-25页 |
| 第二章 实验部分 | 第25-28页 |
| ·仪器设备 | 第25页 |
| ·分析方法的建立 | 第25页 |
| ·测量条件的选择 | 第25-26页 |
| ·样品制备 | 第26页 |
| ·标准样品 | 第26-27页 |
| ·校准曲线绘制、基体效应校正及谱线重叠校正 | 第27-28页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第28-32页 |
| ·粉末压片法及其影响因素 | 第28-29页 |
| ·关于散射背景作内标 | 第29-30页 |
| ·检出限 | 第30页 |
| ·准确度与精密度 | 第30-31页 |
| ·实验结果对照 | 第31-32页 |
| 第四章 结论 | 第32-33页 |
| 附表 | 第33-44页 |
| 参考文献 | 第44-47页 |
| 致谢 | 第47页 |
