基于CPLD的激光相位法测距的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-14页 |
| ·选题背景与研究意义 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·本论文的研究目标和主要工作 | 第12-13页 |
| ·本论文的组织结构 | 第13页 |
| ·本章小结 | 第13-14页 |
| 第2章 相位式激光测距基本原理及总体方案设计 | 第14-22页 |
| ·激光相位式测距的原理与测尺分析 | 第14-16页 |
| ·激光相位式测距的工作原理 | 第14-15页 |
| ·多尺测量的分析与研究 | 第15-16页 |
| ·差频测相 | 第16-17页 |
| ·检相技术 | 第17-20页 |
| ·常用数字检相方法 | 第17-18页 |
| ·自动数字检相法 | 第18-20页 |
| ·系统总体方案设计与框图 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 相位式激光测距系统的硬件设计 | 第22-45页 |
| ·基于DDS的频率综合电路设计 | 第22-27页 |
| ·DDS的基本原理 | 第22-23页 |
| ·DDS的特点 | 第23-24页 |
| ·信号源电路设计 | 第24-27页 |
| ·激光调制电路 | 第27-30页 |
| ·半导体激光器(LD)的直接调制 | 第27-28页 |
| ·光源器件的选型 | 第28-29页 |
| ·调制电路 | 第29-30页 |
| ·光电检测电路 | 第30-34页 |
| ·光电探测器选型 | 第30-31页 |
| ·光电转换电路 | 第31-33页 |
| ·光电检测前置放大电路的仿真分析 | 第33-34页 |
| ·带通滤波器的设计 | 第34-36页 |
| ·MFB二阶有源带通滤波器 | 第34-35页 |
| ·MFB带通滤波器仿真分析 | 第35-36页 |
| ·频率通道选择电路设计 | 第36-37页 |
| ·信号放大电路设计 | 第37-39页 |
| ·电流反馈运放 | 第37-38页 |
| ·放大电路的仿真分析 | 第38-39页 |
| ·整形电路设计 | 第39-40页 |
| ·CPLD电路设计 | 第40-41页 |
| ·可编程器件选择 | 第40-41页 |
| ·电路设计 | 第41页 |
| ·单片机相关电路设计 | 第41-42页 |
| ·电源模块设计 | 第42-44页 |
| ·+5V电源 | 第42-43页 |
| ·-5V电源 | 第43页 |
| ·+3.3V与+1.8V电源 | 第43-44页 |
| ·硬件系统设计注意的问题 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 相位式激光测距系统的软件设计 | 第45-61页 |
| ·软件平台介绍 | 第45页 |
| ·CPLD程序设计 | 第45-53页 |
| ·差频信号获取模块 | 第45-47页 |
| ·自动数字检相模块 | 第47-51页 |
| ·基本检相模块 | 第47-48页 |
| ·检相模块—闸门脉冲的随机性 | 第48-49页 |
| ·检相模块—大小角检相的错误读数 | 第49-51页 |
| ·检相模块—比较器过零检测误差 | 第51页 |
| ·CPLD部分的顶层原理图 | 第51-53页 |
| ·CPLD与单片机的接口设计 | 第53页 |
| ·单片机的程序设计 | 第53-60页 |
| ·主程序 | 第53-54页 |
| ·外部中断服务程序 | 第54-55页 |
| ·AD9954控制程序 | 第55-57页 |
| ·驱动CPLD自动检相程序 | 第57-59页 |
| ·数据处理与显示 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 实验结果与误差分析 | 第61-69页 |
| ·实验结果 | 第61-66页 |
| ·相关信号测试 | 第61-63页 |
| ·差频模块与数字检相模块测试 | 第63-66页 |
| ·差频模块测试 | 第63-64页 |
| ·数字检相模块测试 | 第64-66页 |
| ·误差来源分析 | 第66-67页 |
| ·调试过程以及注意的问题 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 总结 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 附录一：硬件PCB图 | 第75-76页 |
| 附录二：硬件实物图 | 第76-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |
