| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·本课题研究的目的及意义 | 第10-12页 |
| ·声子晶体基本知识 | 第12-16页 |
| ·声子晶体概念 | 第12页 |
| ·声子晶体组成 | 第12-13页 |
| ·声子晶体基本特征 | 第13页 |
| ·声子晶体禁带形成机理 | 第13-14页 |
| ·声子晶体禁带计算方法 | 第14-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-18页 |
| ·本文主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第2章 集中质量法(Lumped-Mass Method) | 第19-29页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·一维声子晶体集中质量法 | 第19-23页 |
| ·二维声子晶体集中质量法 | 第23-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 声子晶体带隙影响因素研究分析 | 第29-58页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·一维声子晶体禁带宽度和第一禁带初始频率的影响因素 | 第29-54页 |
| ·单一材料的带隙计算 | 第31-33页 |
| ·晶胞材料的组分比率 | 第33-36页 |
| ·：晶胞厚度（晶格常数） | 第36-38页 |
| ·：材料密度比率 | 第38-40页 |
| ·：弹性模量比率的数量级 | 第40-44页 |
| ·：对存在的问题进一步分析 | 第44-53页 |
| ·均匀实验设计 | 第44-45页 |
| ·材料组分比率导致的极值 | 第45-49页 |
| ·材料密度变化导致的定值 | 第49-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| ·二维二组元声子晶体第一禁带初始频率计算 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第4章 有限长声子晶体的隔声性能分析 | 第58-70页 |
| ·均匀设计组合带隙计算 | 第58-60页 |
| ·一维声子晶体隔声量计算 | 第60-66页 |
| ·和传统构件隔声量比较 | 第66-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及完成的项目 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |