探地雷达和红外热像仪在西藏寺院和敦煌石窟空鼓壁画保护中的应用
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
主要符号表 | 第9-14页 |
第一章 绪论 | 第14-38页 |
·研究背景 | 第14-15页 |
·国内外研究概况 | 第15-32页 |
·壁画空鼓范围和空鼓程度调查 | 第16-18页 |
·空鼓壁画灌浆加固效果评价 | 第18-20页 |
·探地雷达技术的现状 | 第20-23页 |
·红外热成像技术的发展 | 第23-27页 |
·其他无损检测技术 | 第27-32页 |
·目测法 | 第27页 |
·敲击法 | 第27-28页 |
·测井技术 | 第28-29页 |
·超声弹性波法 | 第29-30页 |
·射线检测 | 第30页 |
·磁粉检测 | 第30-31页 |
·渗透检测 | 第31页 |
·涡流检测 | 第31-32页 |
·声发射检测 | 第32页 |
·磁记忆检测 | 第32页 |
·探地雷达和红外热像仪在壁画保护中的应用 | 第32-34页 |
·研究的内容和意义 | 第34-38页 |
第二章 探地雷达基本理论 | 第38-72页 |
·电磁波在有耗介质中的传播 | 第38-52页 |
·电磁波的衰减特性 | 第39-42页 |
·土的电磁特性 | 第42-46页 |
·水分对电磁波的影响 | 第46-50页 |
·电磁波在层状介质分界面上的反射 | 第50-52页 |
·直耦杂波的去除 | 第52-61页 |
·均值滤波 | 第55-56页 |
·中值滤波 | 第56页 |
·小波包变换 | 第56-58页 |
·独立分量分析 | 第58-59页 |
·自适应滤波 | 第59-61页 |
·带通滤波 | 第61-64页 |
·超带宽设计技术 | 第61-62页 |
·截止频率 | 第62-64页 |
·探地雷达信号的后处理 | 第64-68页 |
·去直流偏移 | 第64-65页 |
·噪声抑制 | 第65页 |
·时变增益 | 第65-66页 |
·小波优化或解卷积 | 第66-67页 |
·谱估计处理方法 | 第67页 |
·偏移 | 第67-68页 |
·提高数据采集质量的途径 | 第68-72页 |
·壁面耦合 | 第68-70页 |
·阻抗匹配 | 第70-71页 |
·电磁脉冲的等时匀速触发 | 第71-72页 |
第三章 探地雷达在空鼓壁画保护中的应用 | 第72-116页 |
·试验方法 | 第72-77页 |
·探地雷达系统 | 第72-75页 |
·入射电磁波特征 | 第73-74页 |
·纵向分辨率 | 第74-75页 |
·信号触发方式 | 第75-76页 |
·时窗深度 | 第76-77页 |
·采样频率 | 第77页 |
·信号基本处理 | 第77-79页 |
·物理正演模拟试验 | 第79-100页 |
·空鼓病害的模拟检测 | 第80-89页 |
·试块的制作 | 第80-82页 |
·数据处理及解译方法 | 第82-85页 |
·空鼓检测结果分析 | 第85-89页 |
·灌浆效果的模拟检测 | 第89-100页 |
·砂砾墙 | 第90-94页 |
·块石墙 | 第94-97页 |
·夯土墙 | 第97-100页 |
·壁画空鼓病害的现场检测 | 第100-110页 |
·布达拉宫 | 第100-106页 |
·黄房子 | 第100-101页 |
·持明佛殿 | 第101-102页 |
·药师殿 | 第102-103页 |
·西大殿 | 第103-105页 |
·七世灵塔殿 | 第105-106页 |
·罗布林卡金色颇章殿 | 第106-107页 |
·萨迦寺 | 第107-109页 |
·银塔殿外室 | 第107-108页 |
·坛城殿 | 第108-109页 |
·西千佛洞第12窟 | 第109-110页 |
·灌浆加固效果的现场检测 | 第110-116页 |
·布达拉宫 | 第110-112页 |
·黄房子 | 第110-111页 |
·西大殿 | 第111-112页 |
·萨迦寺坛城殿 | 第112-114页 |
·罗布林卡金色颇章殿 | 第114-116页 |
第四章 红外热成像基本原理 | 第116-136页 |
·一维非稳态导热分析 | 第116-124页 |
·双面镜像对称加热 | 第120-123页 |
·单面加热 | 第123-124页 |
·红外测温技术 | 第124-136页 |
·红外辐射特性 | 第126-130页 |
·红外热像仪 | 第130-132页 |
·影响测温精度的因素 | 第132-136页 |
第五章 红外热像仪在空鼓壁画保护中的应用 | 第136-144页 |
·红外热成像系统 | 第136-137页 |
·红外热像仪现场检测 | 第137-141页 |
·壁面初始温度分布 | 第137-138页 |
·热流控制 | 第138-139页 |
·壁面温度分布差异 | 第139-141页 |
·空鼓面积的半量化 | 第141-144页 |
·边界条件 | 第142-143页 |
·基于像素阵列的量化 | 第143-144页 |
第六章 结论与展望 | 第144-148页 |
·主要认识与结论 | 第144-146页 |
·展望 | 第146-148页 |
附录:模拟试验设计图纸 | 第148-152页 |
参考文献 | 第152-160页 |
攻读博士学位期间的科研成果 | 第160-162页 |
致谢 | 第162-163页 |