摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-26页 |
·钙钛矿型(ABO_3)电解质 | 第12页 |
·CeO_2基固体电解质 | 第12-14页 |
·改进CeO_2基电解质电导率的方法 | 第14-21页 |
·合成方法的改进 | 第14-16页 |
·共沉淀法 | 第14-15页 |
·溶胶凝胶法 | 第15页 |
·燃烧法 | 第15-16页 |
·水热法 | 第16页 |
·过渡金属氧化物(TMOs) | 第16-21页 |
·本论文的研究思路与内容 | 第21-22页 |
参考文献 | 第22-26页 |
第二章 Ce_(0.8)Sm_(0.2-x)Co_xO_(2-δ)(x=0.00~0.09)的制备和表征 | 第26-47页 |
·引言 | 第26页 |
·实验部分 | 第26-31页 |
·实验原料 | 第26-27页 |
·实验仪器 | 第27页 |
·硝酸盐浓度的标定 | 第27-28页 |
·Ce(NO_3)_3溶液的配置与标定 | 第27页 |
·Sm(NO_3)_3溶液的配置与标定 | 第27页 |
·Co(NO_3)_2溶液的配置与标定 | 第27-28页 |
·Ce_(0.8)Sm_(0.2-x)Co_xO_(2-δ)(x=0.00~0.09)前驱体粉体的制备 | 第28页 |
·样品的制备过程 | 第28页 |
·样品的组分及简写 | 第28页 |
·粉体的热处理成型与烧结 | 第28-29页 |
·粉体的热处理 | 第28页 |
·粉体的成型与烧结 | 第28-29页 |
·粉体样品的表征 | 第29-30页 |
·煅烧粉体XRD表征 | 第29页 |
·前驱体粉体热重(TG-DSC)分析 | 第29页 |
·前驱体粉体红外吸收光谱(FTIR)表征 | 第29-30页 |
·煅烧粉体X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第30页 |
·烧结体样品的表征 | 第30-31页 |
·扫描电镜测试(SEM) | 第30页 |
·CSOCo_x(x=0.00~0.09)烧结体密度的表征 | 第30-31页 |
·能量色散谱(EDS)分析 | 第31页 |
·结果与讨论 | 第31-43页 |
·前驱体的XRD分析 | 第31-33页 |
·CSOCo_(0.07)粉体烧结600℃4h后的SEM | 第33-34页 |
·烧结粉体的XPS分析 | 第34-37页 |
·红外分析 | 第37-38页 |
·1300℃样品XRD和晶胞参数分析 | 第38-40页 |
·烧结体的相对密度 | 第40-42页 |
·烧结体的SEM和EDS表征 | 第42-43页 |
·结论 | 第43-45页 |
参考文献 | 第45-47页 |
第三章 Ce_(0.8)Sm_(0.2-x)Co_xO_(2-δ)(x=0.00~0.09)电性能测试 | 第47-63页 |
·引言 | 第47页 |
·实验部分 | 第47-55页 |
·实验原料 | 第47页 |
·实验仪器 | 第47页 |
·样品的制备 | 第47-48页 |
·样品的烧结 | 第48页 |
·电性能测试条件和方法 | 第48页 |
·CSOCox(x=0.00~0.09)总电导率测试和Arrhenius曲线 | 第48-55页 |
·交流阻抗谱 | 第48-53页 |
·在1200℃,1300℃,1400℃总电导率的Arrhenius曲线 | 第53-55页 |
·1300℃样品的交流阻抗谱 | 第55-56页 |
·1300℃的总电导率和活化能分析 | 第56-58页 |
·1300℃样品晶粒电导率及活化能分析 | 第58-59页 |
·1300℃样品晶界电导率分析 | 第59-60页 |
·小结 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-63页 |
攻读硕士期间发表的文章 | 第63-64页 |
致谢 | 第64页 |