HT-7托卡马克中性粒子能谱仪的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第一章 绪论 | 第12-15页 |
·前言 | 第12-13页 |
·离子温度的测量 | 第13页 |
·本论文的意义、目的及结构安排 | 第13-15页 |
第二章 中性粒子分析技术 | 第15-27页 |
·中性粒子的产生 | 第15-17页 |
·粒子分析方法 | 第17-23页 |
·静电分析器 | 第18-22页 |
·圆柱面静电分析器 | 第18-19页 |
·平行板分析器 | 第19-22页 |
·飞行时间分析法 | 第22页 |
·粒子的质能分析 | 第22-23页 |
·中性粒子的电荷剥离 | 第23-25页 |
·气体剥离法 | 第23-24页 |
·靶气体种类 | 第23-24页 |
·靶室的漏气 | 第24页 |
·固体薄膜剥离 | 第24-25页 |
·粒子探测方法 | 第25-27页 |
·法拉第筒 | 第25页 |
·电子倍增器与二次发射—闪烁计数器 | 第25-26页 |
·通道式电子倍增管和微通道板 | 第26-27页 |
第三章 HT-7上的中性粒子能谱仪 | 第27-38页 |
·HT-7托卡马克上的中性粒子能谱仪(NPA) | 第27-28页 |
·中性粒子能谱仪主体 | 第28-33页 |
·中性粒子能谱仪的安装位置 | 第28-29页 |
·中性粒子能谱仪的准直系统 | 第29页 |
·剥离室 | 第29-31页 |
·圆柱面静电分析器 | 第31页 |
·探测器及相关 | 第31-33页 |
·NPA的真空系统 | 第33-36页 |
·真空泵的选择 | 第33-34页 |
·主泵的选择 | 第33-34页 |
·配泵的选择 | 第34页 |
·真空测量 | 第34页 |
·剥离室流导及相关计算 | 第34-35页 |
·NPA对马克的漏率计算 | 第35-36页 |
·充气系统 | 第36-37页 |
·电源系统及保护电路 | 第37-38页 |
第四章 NPA的数据采集和离子温度的计算 | 第38-48页 |
·NPA的数据采集系统 | 第38-39页 |
·NPA的数据处理 | 第39-41页 |
·HT-7上的中性粒子诊断的研究 | 第41-48页 |
·HT-7欧姆加热等离子体的温度 | 第41-44页 |
·HT-7低杂波驱动下的离子温度 | 第44-48页 |
·HT-7上的 LHCD系统简介 | 第44-45页 |
·低杂波对离子的加热效果 | 第45-48页 |
第五章 总结与展望 | 第48-49页 |
·总结 | 第48页 |
·展望 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-51页 |
个人论文 | 第51页 |