| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| 1．1 电子陶瓷材料的发展概况 | 第9-18页 |
| 1．1．1 绝缘陶瓷 | 第9-12页 |
| 1．1．2 介电陶瓷 | 第12-13页 |
| 1．1．3 微波介电陶瓷 | 第13-16页 |
| 1．1．4 压电陶瓷 | 第16页 |
| 1．1．5 极性定向玻璃陶瓷 | 第16-18页 |
| 1．2 BaO-TiO_2-SiO_2体系的研究概况 | 第18-19页 |
| 1．3 研究目的及内容 | 第19-20页 |
| 第2章 实验过程及研究方法 | 第20-28页 |
| 2．1 陶瓷的制备 | 第20-21页 |
| 2．2 成型剂的选择 | 第21-22页 |
| 2．3 被银 | 第22页 |
| 2．4 极性玻璃陶瓷的制备 | 第22-23页 |
| 2．4．1 玻璃制备 | 第22-23页 |
| 2．4．2 玻璃陶瓷制备 | 第23页 |
| 2．5 组成结构及性能分析测试 | 第23-28页 |
| 2．5．1 差热扫描量热法（DSC) | 第23页 |
| 2．5．2 X衍射粉末衍射物相分析（XRD) | 第23-24页 |
| 2．5．3 红外吸收光谱分析（IR) | 第24页 |
| 2．5．4 喇曼光谱分析（Raman) | 第24-25页 |
| 2．5．5 扫描电镜形貌分析（SEM) | 第25页 |
| 2．5．6 相对密度的测定 | 第25页 |
| 2．5．7 介电性能测试 | 第25-26页 |
| 2．5．8 压电常数d33测量 | 第26-27页 |
| 2．5．9 电阻率的测量 | 第27-28页 |
| 第3章 烧结工艺 | 第28-37页 |
| 3．1 相图分析 | 第28-30页 |
| 3．2 差热分析 | 第30-32页 |
| 3．3 晶相鉴定 | 第32-33页 |
| 3．4 组成的影响 | 第33-35页 |
| 3．5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第4章 结构分析 | 第37-48页 |
| 4．1 X－ray粉末衍射物相分析 | 第37-38页 |
| 4．2 红外和喇曼光谱分析 | 第38-45页 |
| 4．2．1 Ti在结构中的作用 | 第42-43页 |
| 4．2．2 硅氧骨架结构 | 第43-45页 |
| 4．3 扫描电镜形貌结构分析 | 第45-47页 |
| 4．4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 电学性能分析 | 第48-55页 |
| 5．1 频率对介电性能的影响 | 第49-53页 |
| 5．2 组成对于介电性能的影响 | 第53页 |
| 5．3 电阻率 | 第53-54页 |
| 5．4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第6章 极性玻璃陶瓷研究 | 第55-61页 |
| 6．1 掺杂CaO对极性玻璃陶瓷的影响 | 第55-57页 |
| 6．2 掺杂ZrO_2对极性玻璃陶瓷的影响 | 第57-59页 |
| 6．3 晶粒大小分析 | 第59-60页 |
| 6．4 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |