FPGA联线资源测试方法的研究
| 第1章 绪论 | 第1-14页 |
| ·现场可编程门阵列 | 第8-9页 |
| ·FPGA国内外发展动态 | 第9-12页 |
| ·FPGA的发展历史 | 第9-10页 |
| ·FPGA的发展趋势 | 第10-11页 |
| ·数字系统测试方法简介 | 第11-12页 |
| ·课题的提出及本文主要工作 | 第12-14页 |
| 第2章 FPGA的种类与结构 | 第14-25页 |
| ·FPGA的种类 | 第14-17页 |
| ·按逻辑功能块的大小分类 | 第16-17页 |
| ·按互连结构分类 | 第17页 |
| ·按可编程特性分类 | 第17页 |
| ·FPGA的结构 | 第17-24页 |
| ·可编程逻辑块(CLB) | 第19页 |
| ·输入输出块(IOB) | 第19-20页 |
| ·可编程互连(PI) | 第20-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 FPGA的测试技术 | 第25-35页 |
| ·FPGA的测试技术 | 第25-33页 |
| ·逻辑资源的测试 | 第26-30页 |
| ·连线资源的测试 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第4章 连线资源的一般测试与故障诊断方法 | 第35-43页 |
| ·连线资源的测试 | 第35-36页 |
| ·一般单故障模型 | 第36-37页 |
| ·诊断FPGA连线资源单故障的步骤 | 第37-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 基于开关矩阵的一种故障诊断与测试方法 | 第43-53页 |
| ·有关定义 | 第44-45页 |
| ·故障模型 | 第45-46页 |
| ·基本策略 | 第46页 |
| ·开关矩阵和单长度线 | 第46-52页 |
| ·必要的结构测试 | 第46-47页 |
| ·测试结构 | 第47-49页 |
| ·测试过程 | 第49-50页 |
| ·诊断过程 | 第50-52页 |
| ·PSB中的故障 | 第52页 |
| ·本章小节 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
