中文摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-31页 |
·自旋电子学概述 | 第10-11页 |
·稀释磁性半导体(DMS)概述 | 第11-24页 |
·DMS基本概念及分类 | 第12-13页 |
·DMS晶体结构 | 第13-15页 |
·DMS基本特征及其物理性质 | 第15-18页 |
·DMS中铁磁性的来源 | 第18-24页 |
·DMS研究历史及现状 | 第24-26页 |
·应用前景及意义 | 第26-27页 |
·本论文选题依据及研究内容 | 第27-31页 |
·本课题选题目的及存在问题 | 第27-29页 |
·研究内容及创新性 | 第29-31页 |
第2章 实验方法 | 第31-44页 |
·DMS制备方法概述 | 第31-37页 |
·DMS薄膜制备方法 | 第31-35页 |
·DMS粉体的制备方法 | 第35-37页 |
·本实验选用制备方法介绍 | 第37-40页 |
·Sol-gel基本原理 | 第37-38页 |
·Sol-gel的优缺点 | 第38-39页 |
·对样品质量的影响因素 | 第39-40页 |
·性能测试 | 第40-44页 |
·结构表征 | 第40-41页 |
·形貌表征及微区成分表征 | 第41-42页 |
·光学性能 | 第42-43页 |
·磁性能 | 第43-44页 |
第3章 (In_(1-x)Fe_x)_2O_3及(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3薄膜样品的合成与性能研究 | 第44-58页 |
·实验原料及装置 | 第44-45页 |
·薄膜样品的制备 | 第45-46页 |
·基片的预处理 | 第45页 |
·(In_(1-x)Fe_x)_2O_3薄膜的制备 | 第45-46页 |
·Sol的制备 | 第45页 |
·薄膜的制备 | 第45-46页 |
·(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3薄膜的制备 | 第46页 |
·Sol的制备 | 第46页 |
·薄膜的制备 | 第46页 |
·(In_(1-x)Fe_x)_2O_3薄膜的测试分析 | 第46-52页 |
·结构分析 | 第46-48页 |
·形貌分析 | 第48-49页 |
·光学性能分析 | 第49-50页 |
·磁学性能分析 | 第50-52页 |
·(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3薄膜的测试分析 | 第52-56页 |
·结构分析 | 第52-53页 |
·形貌及分析 | 第53-55页 |
·光学性能分析 | 第55-56页 |
·磁学性能分析 | 第56页 |
·小结 | 第56-58页 |
第4章 (In_(1-x)Fe_x)_2O_3及(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3纳米粉体的合成与性能研究 | 第58-69页 |
·纳米粉体概述 | 第58-61页 |
·纳米颗粒的性质 | 第58-59页 |
·纳米颗粒的磁性 | 第59-60页 |
·磁性纳米颗粒制备方法 | 第60-61页 |
·样品的制备 | 第61页 |
·(In_(1-x)Fe_x)_2O_3纳米粉体的制备 | 第61页 |
·(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3纳米粉体的制备 | 第61页 |
·(In_(1-x)Fe_x)_2O_3纳米粉体的测试与分析 | 第61-64页 |
·XRD分析 | 第61-62页 |
·形貌分析 | 第62-63页 |
·磁性能分析 | 第63-64页 |
·(In_(0.9-x)Fe_xSn_(0.1))_2O_3纳米粉体的测试与分析 | 第64-67页 |
·XRD分析 | 第64-65页 |
·形貌分析 | 第65-66页 |
·磁性能分析 | 第66-67页 |
·小结 | 第67-69页 |
第5章 结论 | 第69-71页 |
·主要结论 | 第69-70页 |
·有待研究问题 | 第70页 |
·展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
硕士期间发表论文 | 第79页 |