基于MEMS的平面环形微腔与锥形光纤耦合系统基础研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究意义 | 第9-12页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第12-14页 |
| ·本人主要研究工作和结构安排 | 第14-15页 |
| 第2章 平面环形微腔和锥形光纤的系统理论研究 | 第15-37页 |
| ·品质因数 | 第15-23页 |
| ·固有损耗 | 第16-19页 |
| ·耦合效率 | 第19-22页 |
| ·耦合状态分析 | 第22-23页 |
| ·模式体积 | 第23-26页 |
| ·锥形光纤理论分析 | 第26-29页 |
| ·光场分析 | 第26-28页 |
| ·倏逝波原理 | 第28-29页 |
| ·平面环形微腔耦合系统分析 | 第29-33页 |
| ·微腔耦合模式 | 第29-30页 |
| ·耦合原理 | 第30-33页 |
| ·光学仿真 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 平面环形微腔和锥形光纤的制备 | 第37-50页 |
| ·平面环形微腔制备 | 第37-45页 |
| ·工艺流程设计 | 第37-39页 |
| ·实验设备 | 第39页 |
| ·加工流程 | 第39-40页 |
| ·微腔的精确对准 | 第40-41页 |
| ·功率控制 | 第41-43页 |
| ·实验结果 | 第43-44页 |
| ·实验分析 | 第44-45页 |
| ·锥形光纤制备 | 第45-49页 |
| ·加工方法分析 | 第45页 |
| ·装置组成 | 第45-46页 |
| ·关键问题分析 | 第46-47页 |
| ·实验过程 | 第47-49页 |
| ·实验分析 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 平面环形微腔的测试方法研究 | 第50-62页 |
| ·光腔衰荡方法介绍 | 第51页 |
| ·光腔衰荡的原理 | 第51-53页 |
| ·光腔衰荡法构成 | 第53-58页 |
| ·光源部分 | 第53-54页 |
| ·平面环形微腔 | 第54页 |
| ·探测器和示波器选择 | 第54-58页 |
| ·平面环形微腔的性能测试 | 第58-61页 |
| ·测试系统构成 | 第58页 |
| ·微位置对准 | 第58-59页 |
| ·微腔测试 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 总结和展望 | 第62-64页 |
| ·总结 | 第62页 |
| ·展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的成果 | 第69-70页 |
| 参与申请专利 | 第70页 |
| 参与国家基金项目 | 第70页 |
| 研究生期间获得的奖励 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
