X-DSP可测性设计与片上调试技术的研究与实现
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| ·课题研究背景 | 第13页 |
| ·可测性设计的概念和常用方法 | 第13-16页 |
| ·调试的相关概念和技术 | 第16-19页 |
| ·调试技术分类 | 第17页 |
| ·片上调试技术 | 第17-19页 |
| ·DFT与DFD的区别 | 第19-20页 |
| ·课题研究的主要内容和成果 | 第20页 |
| ·文章的组织结构 | 第20-22页 |
| 第二章 X-DSP测试与调试结构的总体设计 | 第22-28页 |
| ·X-DSP总体结构概述 | 第22-23页 |
| ·X-DSP测试与调试需求分析 | 第23-24页 |
| ·X-DSP测试与调试结构的总体设计方案 | 第24-27页 |
| ·测试逻辑和系统逻辑 | 第24-25页 |
| ·测试结构设计 | 第25页 |
| ·调试与测试结构整合 | 第25-26页 |
| ·整体结构 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 X-DSP测试结构设计 | 第28-50页 |
| ·边界扫描 | 第28-44页 |
| ·IEEE1149.1标准 | 第28-34页 |
| ·X-DSP的边界扫描设计与实现 | 第34-44页 |
| ·内部全扫描 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 片上调试结构设计 | 第50-62页 |
| ·嵌入式系统调试基本原理 | 第50-51页 |
| ·X-DSP片上调试结构的实现 | 第51-57页 |
| ·调试支持指令设计 | 第51-53页 |
| ·调试链路设计 | 第53-54页 |
| ·调试扫描链选择逻辑 | 第54-57页 |
| ·X-DSP片上调试系统工作方式 | 第57-61页 |
| ·流水线控制与单步 | 第57-58页 |
| ·断点机制的实现 | 第58-61页 |
| ·软件重启 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 功能验证 | 第62-74页 |
| ·常用功能验证方法 | 第62页 |
| ·验证方案 | 第62-63页 |
| ·测试码开发 | 第63页 |
| ·测试码开发原则 | 第63页 |
| ·X-DSP测试与调试结构的测试码开发 | 第63页 |
| ·测试功能的系统级验证 | 第63-65页 |
| ·TAP状态机验证 | 第63-64页 |
| ·扫描过程验证 | 第64-65页 |
| ·调试功能的系统级验证 | 第65-68页 |
| ·Load过程验证 | 第65-66页 |
| ·Step过程验证 | 第66页 |
| ·断点机制验证 | 第66-67页 |
| ·正常运行过程验证 | 第67-68页 |
| ·投片后验证 | 第68-73页 |
| ·寄存器的观察与修改 | 第68-69页 |
| ·存储器的观察与修改 | 第69-70页 |
| ·断点设置 | 第70-71页 |
| ·单步执行 | 第71页 |
| ·连续运行 | 第71-73页 |
| ·投片后验证总结 | 第73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 结束语 | 第74-76页 |
| ·工作总结 | 第74页 |
| ·未来工作展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第79页 |
