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原子层淀积高k介质MIM电容性能研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
第1章 绪论第8-19页
   ·MIM电容的研究意义第9-10页
   ·MIM电容的性能要求和发展趋势第10-12页
   ·高介电常数材料第12-15页
     ·介电常数理论第12-14页
     ·适用于MIM电容的高k介质第14-15页
   ·高K介质薄膜的制备工艺第15-19页
第2章 不同底电极对HfO_2介质MIM电性能的影响第19-33页
   ·引言第19-20页
   ·实验内容第20页
   ·结果与讨论第20-32页
     ·C-V结果第20-24页
     ·VCC分析第24-27页
     ·I-V结果第27-32页
   ·本章小结第32-33页
第3章 原子层淀积Nb_2O_5薄膜研究第33-41页
   ·试验方法第33页
   ·生长速率标定第33-36页
   ·淀积温度对介质的影响第36-39页
   ·退火对介质的影响第39-40页
   ·本章小结第40-41页
第4章 MIM电容电压系数(VCC)的理论与验证第41-48页
   ·理论模型第41-44页
     ·自由载流子模型第41-42页
     ·氧空位极化理论第42-44页
   ·拟合第44-47页
     ·Al_2O_3第44-45页
     ·HfO_2第45-47页
   ·本章小结第47-48页
第五章 全文总结第48-49页
参考文献第49-56页
硕士阶段完成的论文第56-57页
致谢第57-58页

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