摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第8-19页 |
·MIM电容的研究意义 | 第9-10页 |
·MIM电容的性能要求和发展趋势 | 第10-12页 |
·高介电常数材料 | 第12-15页 |
·介电常数理论 | 第12-14页 |
·适用于MIM电容的高k介质 | 第14-15页 |
·高K介质薄膜的制备工艺 | 第15-19页 |
第2章 不同底电极对HfO_2介质MIM电性能的影响 | 第19-33页 |
·引言 | 第19-20页 |
·实验内容 | 第20页 |
·结果与讨论 | 第20-32页 |
·C-V结果 | 第20-24页 |
·VCC分析 | 第24-27页 |
·I-V结果 | 第27-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第3章 原子层淀积Nb_2O_5薄膜研究 | 第33-41页 |
·试验方法 | 第33页 |
·生长速率标定 | 第33-36页 |
·淀积温度对介质的影响 | 第36-39页 |
·退火对介质的影响 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第4章 MIM电容电压系数(VCC)的理论与验证 | 第41-48页 |
·理论模型 | 第41-44页 |
·自由载流子模型 | 第41-42页 |
·氧空位极化理论 | 第42-44页 |
·拟合 | 第44-47页 |
·Al_2O_3 | 第44-45页 |
·HfO_2 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第五章 全文总结 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-56页 |
硕士阶段完成的论文 | 第56-57页 |
致谢 | 第57-58页 |