| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-44页 |
| 1.1 引言 | 第14-15页 |
| 1.2 纳米催化剂 | 第15-17页 |
| 1.2.1 纳米催化剂简介 | 第15页 |
| 1.2.2 纳米催化剂的制备 | 第15-17页 |
| 1.3 纳米催化剂在甲烷部分氧化反应中的应用 | 第17-21页 |
| 1.3.1 甲烷的利用现状 | 第17-19页 |
| 1.3.2 甲烷部分氧化反应的反应机理 | 第19-20页 |
| 1.3.3 甲烷部分氧化反应的催化剂 | 第20-21页 |
| 1.3.4 载体的选择 | 第21页 |
| 1.4 核壳型纳米催化剂 | 第21-33页 |
| 1.4.1 核壳结构 | 第22-24页 |
| 1.4.2 核壳型纳米催化剂的合成 | 第24-29页 |
| 1.4.3 核壳型催化剂的应用 | 第29-33页 |
| 1.5 论文的研究思路和主要内容 | 第33-35页 |
| 参考文献 | 第35-44页 |
| 第二章 实验部分 | 第44-51页 |
| 2.1 主要实验试剂和仪器 | 第44-45页 |
| 2.1.1 实验试剂 | 第44-45页 |
| 2.1.2 主要仪器设备 | 第45页 |
| 2.2 催化剂的制备 | 第45-46页 |
| 2.3 催化剂反应性能评价 | 第46-48页 |
| 2.3.1 甲烷部分氧化制备合成气反应性能评价 | 第46-47页 |
| 2.3.2 甲烷部分氧化制备合成气反应性能计算方法 | 第47-48页 |
| 2.4 催化剂的表征 | 第48-51页 |
| 2.4.1 X射线粉末衍射(XRD)测试 | 第48页 |
| 2.4.2 高分辨透射电子显微镜(TEM和HR-TEM)测试 | 第48页 |
| 2.4.3 程序升温还原(H_2-TPR)测试 | 第48-49页 |
| 2.4.4 比表面积(BET)测试 | 第49页 |
| 2.4.5 电感耦合等离子体(ICP)测试 | 第49页 |
| 2.4.6 X-射线光电子能谱(XPS)测试 | 第49页 |
| 2.4.7 热重(TG)测试 | 第49-50页 |
| 2.4.8 程序升温氧化(O_2-TPO)测试 | 第50-51页 |
| 第三章 热稳定的核壳型Ni/棒状CeO_2@SiO_2催化剂在高温甲烷部分氧化反应中的应用 | 第51-73页 |
| 3.1 引言 | 第51-52页 |
| 3.2 催化剂制备 | 第52-54页 |
| 3.2.1 水热法合成棒状CeO_2 | 第52-53页 |
| 3.2.2 浸渍法合成Ni/棒状CeO_2 | 第53页 |
| 3.2.3 微乳液法合成Ni/棒状CeO_2@SiO_2 | 第53页 |
| 3.2.4 微乳液法合成Ni@SiO_2 | 第53-54页 |
| 3.3 催化剂性质表征 | 第54-62页 |
| 3.3.1 TEM表征 | 第54-56页 |
| 3.3.2 XRD表征 | 第56-58页 |
| 3.3.3 H_2-TPR表征 | 第58-59页 |
| 3.3.4 BET表征 | 第59-60页 |
| 3.3.5 XPS表征 | 第60-62页 |
| 3.4 甲烷部分氧化反应的性能评估 | 第62-65页 |
| 3.5 反应后的催化剂表征 | 第65-68页 |
| 3.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 第四章 Pd/棒状CeO_2@SiO_2核壳型催化剂的合成及其POM催化性能 | 第73-92页 |
| 4.1 引言 | 第73-74页 |
| 4.2 催化剂的制备 | 第74-75页 |
| 4.3 催化剂性质表征 | 第75-84页 |
| 4.4 POM反应催化性能评价 | 第84-86页 |
| 4.5 反应后的催化剂表征 | 第86-88页 |
| 4.6 本章小结 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-92页 |
| 硕士发表文章及专利 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
