| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 1. 文献综述 | 第9-22页 |
| 1.1 稀土简介 | 第9页 |
| 1.2 世界稀土分布规律 | 第9-10页 |
| 1.3 我国稀土的分布情况 | 第10页 |
| 1.4 白云鄂博矿简介及目前的稀土使用情况 | 第10-12页 |
| 1.5 现行的选矿手段 | 第12页 |
| 1.6 X 射线荧光原理 | 第12-14页 |
| 1.7 X 射线荧光光谱仪的发展现状 | 第14-15页 |
| 1.8 X 射线分选机的发展使用现状 | 第15-17页 |
| 1.9 国内小型 EDXRF 与 X 射线矿石分选机的核心部件对比 | 第17-22页 |
| 2. 选题的目的和意义 | 第22-26页 |
| 2.1 选题的目的 | 第22页 |
| 2.2 选题的意义 | 第22-26页 |
| 3. 试验方法 | 第26-38页 |
| 3.1 试验原料 | 第26页 |
| 3.2 试验装置 | 第26页 |
| 3.3 试验程序优化 | 第26-36页 |
| 3.3.1 原始程序流程简要介绍 | 第26-27页 |
| 3.3.2 捕获光谱信息及排除没有测量样品时空气带来的影响 | 第27-28页 |
| 3.3.3 调整数据传递顺序以解决自动实时测量 | 第28-30页 |
| 3.3.4 在程序中引入峰背比法 | 第30-32页 |
| 3.3.5 判断精矿尾矿以及统计矿石数量 | 第32页 |
| 3.3.6 设计可视化界面 | 第32-36页 |
| 3.3.7 提高测量速度 | 第36页 |
| 3.4 试验测量条件的设定 | 第36-38页 |
| 4. 试验结果与讨论 | 第38-46页 |
| 4.1 测量多金属矿中低品位矿石的理论基础 | 第38页 |
| 4.2 La、Ce 分析区域、无干扰背景的确定 | 第38-39页 |
| 4.3 XRF 探测信号与粉末压样中 La+Ce 含量的线性关系 | 第39-40页 |
| 4.4 XRF 探测信号与矿石中稀土总量的线性关系 | 第40-42页 |
| 4.5 使用 X 射线分选机选别出的矿石品位与矿石尺寸的关系 | 第42-43页 |
| 4.6 多次分选来降低高品位矿石漏选的分析 | 第43-46页 |
| 结论 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-52页 |
| 附录A 原始程序重要数据传递流程 | 第52-56页 |
| 附录B 有价元素及无干扰背景区域标定程序 | 第56-59页 |
| 附录C 统计精矿与尾矿数量程序 | 第59-61页 |
| 附录D 清空矿石统计程序 | 第61-62页 |
| 附录E 可视化界面优化程序 | 第62-66页 |
| 在学研究成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
