| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 AOTF近红外光谱仪的研究与应用现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 AOTF近红外光谱仪国内外研究进展 | 第11-14页 |
| 1.2.2 AOTF近红外光谱仪中信号检测部分的研究进展 | 第14-15页 |
| 1.3 本论文的结构安排 | 第15-16页 |
| 第二章 AOTF近红外光谱仪检测系统简介 | 第16-28页 |
| 2.1 近红外光谱仪的概述 | 第16-20页 |
| 2.1.1 近红外光谱仪结构 | 第16页 |
| 2.1.2 滤光片型近红外光谱仪 | 第16-17页 |
| 2.1.3 光栅型近红外光谱仪 | 第17-18页 |
| 2.1.4 傅立叶变换型近红外光谱仪 | 第18-19页 |
| 2.1.5 声光可调谐滤光型近红外光谱仪 | 第19页 |
| 2.1.6 本文研究的AOTF近红外光谱仪基本组成 | 第19-20页 |
| 2.2 声光可调滤光器简介 | 第20-23页 |
| 2.2.1 AOTF原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 衍射波长与驱动频率的关系 | 第21-22页 |
| 2.2.3 AOTF的技术优势 | 第22-23页 |
| 2.3 近红外光谱仪中的单色光调制技术 | 第23-25页 |
| 2.3.1 单色光调制技术的意义 | 第23-24页 |
| 2.3.2 单色光调制技术原理 | 第24-25页 |
| 2.4 AOTF近红外光谱仪信号检测系统的总体设计方案 | 第25-27页 |
| 2.4.1 单色光调制方案 | 第25-26页 |
| 2.4.2 相关检测方案 | 第26-27页 |
| 2.4.3 AOTF近红外光谱仪信号检测系统整体方案 | 第27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 信号检测系统中的锁相放大设计 | 第28-44页 |
| 3.1 锁相放大方案 | 第28-29页 |
| 3.2 相敏检波原理 | 第29-30页 |
| 3.3 锁相放大电路设计 | 第30-38页 |
| 3.3.1 带通滤波 | 第31-33页 |
| 3.3.2 移相电路 | 第33-34页 |
| 3.3.3 相敏检波 | 第34-36页 |
| 3.3.4 低通滤波 | 第36-38页 |
| 3.4 锁相放大电路的输出结果测试 | 第38-39页 |
| 3.5 双锁相放大原理及设计 | 第39-43页 |
| 3.5.1 双锁相放大原理 | 第39-40页 |
| 3.5.2 锁相环移相器 | 第40-43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 AOTF近红外光谱仪检测系统的硬件电路设计 | 第44-58页 |
| 4.1 AOTF近红外光谱仪检测系统的硬件电路总体设计方案 | 第44-45页 |
| 4.2 信号发生模块设计 | 第45-53页 |
| 4.2.1 DDS频率合成技术 | 第45-46页 |
| 4.2.2 AOTF射频驱动器 | 第46-51页 |
| 4.2.3 单色光调制器 | 第51-53页 |
| 4.3 数据采集功能模块设计 | 第53-55页 |
| 4.4 串口通信功能模块设计 | 第55-56页 |
| 4.5 电源电路设计 | 第56-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 AOTF近红外光谱仪检测系统的控制部分软件设计 | 第58-65页 |
| 5.1 AOTF近红外光谱仪检测系统的控制部分软件设计方案 | 第58页 |
| 5.2 AD9910软件设计 | 第58-61页 |
| 5.2.1 AD9910串行通讯 | 第58-59页 |
| 5.2.2 AD9910读写程序设计 | 第59-61页 |
| 5.3 AD9851软件设计 | 第61-62页 |
| 5.3.1 AD9851串行通讯 | 第61页 |
| 5.3.2 AD9851程序读写设计 | 第61-62页 |
| 5.4 自动频率控制软件设计 | 第62页 |
| 5.5 数据采集软件设计 | 第62-63页 |
| 5.6 串口通信软件设计 | 第63-64页 |
| 5.7 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 系统测试 | 第65-79页 |
| 6.1 锁相放大电路性能测试 | 第65-73页 |
| 6.1.1 锁相放大电路线性度测试 | 第65-66页 |
| 6.1.2 锁相放大电路相位差对输出结果影响的测试 | 第66-68页 |
| 6.1.3 锁相放大电路基线的稳定度测试 | 第68-69页 |
| 6.1.4 锁相放大电路在噪声环境中的测试 | 第69-70页 |
| 6.1.5 双锁相放大电路输出结果测试 | 第70-73页 |
| 6.2 AOTF光谱仪系统性能测试 | 第73-78页 |
| 6.2.1 系统对背景环境的测试 | 第73-74页 |
| 6.2.2 系统误差及重复性测试 | 第74-76页 |
| 6.2.3 系统稳定性测试 | 第76页 |
| 6.2.4 系统信噪比 | 第76-78页 |
| 6.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第79-81页 |
| 7.1 全文总结 | 第79-80页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第86-87页 |
