首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--通信论文--通信理论论文--信息论论文--信道编码理论论文

Turbo码编译码器的研究与FPGA实现

摘要第5-6页
abstract第6页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 Turbo码的研究背景和意义第10-12页
    1.2 Turbo码的研究现状与应用第12-13页
    1.3 本文研究的主要内容第13-16页
第2章 Turbo码的基础理论第16-38页
    2.1 Turbo码编码器的工作原理第16-21页
        2.1.1 递归系统卷积码(RSC)第17-18页
        2.1.2 交织器第18-20页
        2.1.3 删余矩阵第20-21页
        2.1.4 复接器第21页
    2.2 Turbo码译码器的工作原理第21-26页
        2.2.1 数据转换第22-23页
        2.2.2 解复接第23页
        2.2.3 分量译码器第23-25页
        2.2.4 解交织器第25页
        2.2.5 硬判决模块第25-26页
    2.3 Turbo码的译码算法第26-36页
        2.3.1 译码准则第26-27页
        2.3.2 MAP译码算法第27-33页
        2.3.3 Log-MAP译码算法第33-34页
        2.3.4 Max-Log-MAP译码算法第34-35页
        2.3.5 三种译码算法的比较第35-36页
    2.4 本章小结第36-38页
第3章 Turbo码编译码器的设计与实现第38-58页
    3.1 总体方案设计第38-42页
        3.1.1 系统结构设计第38-39页
        3.1.2 参数设计第39-40页
        3.1.3 开发环境和工具软件第40-42页
    3.2 时钟和信源模块设计第42-44页
        3.2.1 时钟模块设计第42-43页
        3.2.2 信源模块第43-44页
    3.3 Turbo码编码器的设计第44-49页
        3.3.1 递归系统卷积码(RSC)模块设计第44-45页
        3.3.2 交织模块设计第45-48页
        3.3.3 删余矩阵模块设计第48-49页
        3.3.4 复接模块设计第49页
    3.4 Turbo码译码器的设计第49-57页
        3.4.1 数据转换模块设计第50-51页
        3.4.2 解复接模块设计第51-52页
        3.4.3 分量译码模块设计第52-56页
        3.4.4 解交织模块设计第56页
        3.4.5 硬判决模块设计第56-57页
    3.5 本章小结第57-58页
第4章 Turbo码编译码器的仿真测试与结果分析第58-82页
    4.1 时钟和信源模块的仿真与结果分析第58-59页
        4.1.1 时钟模块的仿真第58-59页
        4.1.2 信源模块的仿真第59页
    4.2 Turbo码编码器的仿真与结果分析第59-63页
        4.2.1 递归系统卷积码(RSC)模块的仿真第59-60页
        4.2.2 交织模块的仿真与结果分析第60-61页
        4.2.3 删余矩阵的仿真与结果分析第61-62页
        4.2.4 复接模块的仿真与结果分析第62-63页
    4.3 Turbo码译码器的仿真与结果分析第63-72页
        4.3.1 数据转换模块第63-64页
        4.3.2 解复接模块第64页
        4.3.3 分量译码模块的仿真与结果分析第64-70页
        4.3.4 解交织模块的仿真与结果分析第70-71页
        4.3.5 硬判决模块的仿真与结果分析第71-72页
    4.4 系统整体设计的仿真与结果分析第72-77页
        4.4.1 Turbo码编码模块的仿真第72-74页
        4.4.2 Turbo码译码模块的仿真第74-77页
    4.5 系统的硬件测试与结果分析第77-81页
        4.5.1 系统综合仿真第77-79页
        4.5.2 硬件测试与结果分析第79-81页
    4.6 本章小结第81-82页
结论第82-84页
参考文献第84-86页
附录第86-87页
致谢第87-88页
作者简介第88页

论文共88页,点击 下载论文
上一篇:基于数据驱动模拟电路故障预测算法实现与软件开发
下一篇:碳化硅MOSFET电容及宽温度范围内的静态参数测试