| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 课题研究内容与创新性 | 第13-14页 |
| 第二章 系统总体方案设计 | 第14-26页 |
| 2.1 恒温槽系统整体概述 | 第14-17页 |
| 2.1.1 系统结构介绍 | 第14-16页 |
| 2.1.2 系统控制概述 | 第16-17页 |
| 2.1.3 恒温槽温度控制模型 | 第17页 |
| 2.2 半导体制冷技术 | 第17-22页 |
| 2.2.1 半导体制冷原理 | 第18-19页 |
| 2.2.2 半导体制冷量 | 第19-20页 |
| 2.2.3 半导体制冷片的使用 | 第20-22页 |
| 2.3 单相交流调压模块 | 第22-25页 |
| 2.3.1 单相交流调压电路 | 第22-23页 |
| 2.3.2 交流调压模块的控制 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 系统硬件电路设计 | 第26-39页 |
| 3.1 系统硬件电路总体结构 | 第26-28页 |
| 3.1.1 硬件电路组成简介 | 第26页 |
| 3.1.2 微处理器选型 | 第26-27页 |
| 3.1.3 电源电路设计 | 第27-28页 |
| 3.2 系统检测元件选型 | 第28-31页 |
| 3.2.1 热电阻的温度阻值特性 | 第29-30页 |
| 3.2.2 系统测温元件的确定 | 第30-31页 |
| 3.3 信号处理模块设计 | 第31-36页 |
| 3.3.1 模拟信号处理电路 | 第31-32页 |
| 3.3.2 数据采集电路实现 | 第32-33页 |
| 3.3.3 模拟量控制信号输出模块 | 第33-35页 |
| 3.3.4 开关量控制信号驱动电路 | 第35-36页 |
| 3.4 通信模块设计 | 第36-38页 |
| 3.4.1 人机界面通信接口电路 | 第36-37页 |
| 3.4.2 网络接口模块 | 第37-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 系统控制算法设计 | 第39-49页 |
| 4.1 PID控制理论 | 第39-41页 |
| 4.1.1 PID控制器的结构及原理 | 第39-40页 |
| 4.1.2 变速积分增量式PID控制算法 | 第40-41页 |
| 4.2 常用PID参数自整定方法的分析对比 | 第41-43页 |
| 4.2.1 基于模型辨识的自整定方法 | 第41-42页 |
| 4.2.2 基于规则的自整定方法 | 第42-43页 |
| 4.3 基于继电反馈的PID参数整定方法 | 第43-48页 |
| 4.3.1 理想继电反馈的PID参数自整定 | 第43-44页 |
| 4.3.2 饱和继电反馈的PID参数自整定 | 第44-45页 |
| 4.3.3 基于Simulink的临界信息仿真分析 | 第45-47页 |
| 4.3.4 基于Z-N整定规则的PID控制器参数 | 第47-48页 |
| 4.4 系统控制算法设计 | 第48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 系统软件设计 | 第49-65页 |
| 5.1 系统软件设计概述 | 第49页 |
| 5.2 嵌入式操作系统的使用 | 第49-53页 |
| 5.2.1 μC/OS-II系统简介 | 第49-51页 |
| 5.2.2 μC/OS-II系统移植 | 第51页 |
| 5.2.3 μC/OS-II任务建立与调度 | 第51-53页 |
| 5.3 数据采集及通信程序设计 | 第53-59页 |
| 5.3.1 AD数据采集程序设计 | 第54-56页 |
| 5.3.2 数字滤波算法程序设计 | 第56-57页 |
| 5.3.3 基于Modbus协议的串行通信实现 | 第57-59页 |
| 5.4 系统控制程序设计 | 第59-64页 |
| 5.4.1 继电反馈PID参数自整定程序设计 | 第61-62页 |
| 5.4.2 变速积分PID控制算法程序设计 | 第62-63页 |
| 5.4.3 PWM输出程序设计 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 测试结果与分析 | 第65-70页 |
| 6.1 测温装置测试 | 第65-66页 |
| 6.2 温度控制过程 | 第66-67页 |
| 6.3 温场波动性与均匀性测试 | 第67-69页 |
| 6.3.1 温场波动性测试 | 第67-68页 |
| 6.3.2 温场均匀性测试 | 第68-69页 |
| 6.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 总结与展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |