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金属氧化物及类石墨烯材料负热膨胀性质的第一性原理研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
目录第8-10页
1 引言第10-26页
    1.1 负热膨胀研究的进展和意义第10-12页
        1.1.1 负热膨胀研究的发展及振兴第10-11页
        1.1.2 应用前景及研究意义第11-12页
    1.2 负热膨胀效应的物理机制第12-20页
        1.2.1 声子效应第13-19页
        1.2.2 结构相变第19页
        1.2.3 磁相变第19页
        1.2.4 电子效应第19-20页
    1.3 负热膨胀材料的分类第20-24页
        1.3.1 负热膨胀块体材料第20-23页
        1.3.2 低维负热膨胀材料第23-24页
    1.4 本论文研究的主要内容第24-26页
2 理论与方法第26-33页
    2.1 第一性原理计算方法第26-32页
        2.1.1 多粒子系统第26-28页
        2.1.2 密度泛函理论第28-31页
        2.1.3 赝势方法第31-32页
    2.2 热力学性质的计算方法及软件简介第32-33页
        2.2.1 计算方法第32页
        2.2.2 VASP & PHONOPY第32-33页
3 金属氧化物的负热膨胀性质第33-46页
    3.1 背景介绍第33-34页
    3.2 计算方法第34-35页
    3.3 结果和讨论第35-45页
        3.3.1 框架结构的负热膨胀第35-38页
        3.3.2 非框架结构(ZnO)的负热膨胀第38-45页
    3.4 本章小结第45-46页
4 单层过渡族金属二硫属化物半导体的热膨胀性质第46-55页
    4.1 背景介绍第46页
    4.2 计算方法第46-48页
    4.3 结果与讨论第48-53页
        4.3.1 面内刚度和电荷转移第48-49页
        4.3.2 声子第49-50页
        4.3.3 热膨胀第50-52页
        4.3.4 面内刚度和电荷转移对热膨胀的影响第52-53页
    4.4 本章小结第53-55页
5 总结与展望第55-56页
参考文献第56-63页
在学期间发表的学术论文第63-64页
致谢第64页

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