基于组合频谱的激光粒度测试优化技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 颗粒粒度对各领域的影响 | 第8-11页 |
| 1.2 颗粒粒径测量的主要方法 | 第11-16页 |
| 1.2.1 图像法 | 第11页 |
| 1.2.2 筛分法 | 第11页 |
| 1.2.3 沉降法 | 第11-12页 |
| 1.2.4 库尔特计数法 | 第12页 |
| 1.2.5 超声法 | 第12-13页 |
| 1.2.6 重量法、振荡天平法和β射线法 | 第13页 |
| 1.2.7 光散射法 | 第13-16页 |
| 1.3 激光散射（衍射）法粒度测量方法的发展现状 | 第16-17页 |
| 1.4 课题研究的目的及意义 | 第17页 |
| 1.5 本文主要内容 | 第17-18页 |
| 第二章 基于组合频谱的激光粒度测试理论基础 | 第18-32页 |
| 2.1 基本光学原理 | 第18-21页 |
| 2.1.1 光的衍射 | 第18-19页 |
| 2.1.2 光的散射 | 第19-20页 |
| 2.1.3 光的偏振 | 第20-21页 |
| 2.2 激光粒度测量原理 | 第21-25页 |
| 2.2.1 Mie 散射理论概述 | 第21-24页 |
| 2.2.2 单散射下探测环散射能量计算 | 第24-25页 |
| 2.3 基于组合频谱技术的粒度测量原理 | 第25-32页 |
| 第三章 组合硅光电探测器的优化研究 | 第32-46页 |
| 3.1 半导体对光的吸收原理 | 第32-34页 |
| 3.2 光电探测器的选取 | 第34-35页 |
| 3.3 组合硅光电探测器的结构尺寸确定 | 第35-38页 |
| 3.3.1 粒径尺寸分段的确定 | 第35页 |
| 3.3.2 探测器半径尺寸的确定方法 | 第35页 |
| 3.3.3 激光粒度仪的探测器尺寸的确定 | 第35-38页 |
| 3.4 硅光电探测器的工艺参数选取及制作 | 第38-46页 |
| 3.4.1 探测器材料和掩膜版图设计 | 第39-41页 |
| 3.4.2 硅光电探测器制作 | 第41-46页 |
| 第四章 激光粒度仪样机开发 | 第46-60页 |
| 4.1 数据采集系统设计 | 第46-56页 |
| 4.1.1 数据通信选择与微控制器选型设计 | 第46-47页 |
| 4.1.2 探测器信号处理与采集电路设计 | 第47-52页 |
| 4.1.3 硬件电路PCB设计 | 第52-56页 |
| 4.2 机械结构设计 | 第56-60页 |
| 第五章 模拟及实验 | 第60-64页 |
| 第六章 总结和展望 | 第64-66页 |
| 6.1 全文总结 | 第64页 |
| 6.2 下步工作及展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
