| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 太赫兹时域光谱技术 | 第8-9页 |
| 1.2 THz-TDS 系统的组成 | 第9页 |
| 1.3 现有实验室THz-TDS 信号探测和提取 | 第9-11页 |
| 1.4 本课题研究的内容与实现方案 | 第11-13页 |
| 第二章 微弱信号检测技术与THz 信号采集新方案 | 第13-24页 |
| 2.1 噪声信号的描述 | 第13-17页 |
| 2.1.1 噪声概率密度函数 | 第13-15页 |
| 2.1.2 噪声的功率谱密度函数 | 第15页 |
| 2.1.3 噪声的自相关函数 | 第15-16页 |
| 2.1.4 白噪声的统计特征 | 第16-17页 |
| 2.2 噪声中微弱信号检测 | 第17-20页 |
| 2.2.1 噪声中微弱信号检测常见方法 | 第17-19页 |
| 2.2.2 噪声中周期弱信号检测方法 | 第19页 |
| 2.2.3 噪声中非周期弱信号检测方法 | 第19-20页 |
| 2.3 锁相放大技术原理 | 第20-22页 |
| 2.3.1 锁相放大器原理与常用技术介绍 | 第20-21页 |
| 2.3.2 对TDS 探测信号的锁相放大处理 | 第21-22页 |
| 2.4 TDS 信号采集新方案 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 基于CD552-R3 芯片的相敏检波电路设计与测试 | 第24-32页 |
| 3.1 相敏检波器CD552-R3 芯片介绍 | 第24-26页 |
| 3.2 CD552-R3 相敏检波电路设计 | 第26-27页 |
| 3.3 相敏检波电路性能测试 | 第27-30页 |
| 3.3.1 线性度测试 | 第27-28页 |
| 3.3.2 相敏检波电路相位差与输出结果关系 | 第28-29页 |
| 3.3.3 相敏检波电路去噪性能测试 | 第29-30页 |
| 3.4 参考信号通道：移相器电路设计 | 第30-31页 |
| 3.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 CD552-R3 锁相放大系统预处理电路设计与测试 | 第32-41页 |
| 4.1 预处理电路设计 | 第32-37页 |
| 4.1.1 光电探测器前级电流放大电路设计 | 第32-33页 |
| 4.1.2 带通滤波器设计 | 第33-36页 |
| 4.1.3 程控放大电路设计 | 第36-37页 |
| 4.2 放大电路测试 | 第37-40页 |
| 4.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 太赫兹脉冲探测信号的采集与电路性能测试 | 第41-48页 |
| 5.1 CD552-R3 锁相放大电路对太赫兹脉冲信号的采集 | 第41-43页 |
| 5.2 锁相放大器SR830 对太赫兹信号提取实验 | 第43-46页 |
| 5.3 CD552-R3 锁相放大电路与SR830 系统对太赫兹脉冲信号采集对比分析 | 第46-47页 |
| 5.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章 系统稳定性及误差分析 | 第48-51页 |
| 6.1 系统稳定性分析 | 第48页 |
| 6.2 系统误差分析 | 第48-51页 |
| 第七章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 7.1 工作总结 | 第51-52页 |
| 7.2 工作展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
