| 目录 | 第4-7页 |
| CATALOGUE | 第7-10页 |
| 摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12-14页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| 1.1 前言 | 第16-17页 |
| 1.2 研究背景与现状 | 第17-20页 |
| 1.2.1 IGBT热阻测量 | 第17-19页 |
| 1.2.2 IGBT结温分布不均匀性研究 | 第19-20页 |
| 1.3 论文的主要内容 | 第20页 |
| 1.4 本章小结 | 第20-22页 |
| 本章参考文献 | 第22-24页 |
| 第二章 IGBT与IGBT热阻 | 第24-41页 |
| 2.1 功率型器件 | 第24页 |
| 2.2 IGBT | 第24-27页 |
| 2.2.1 IGBT的发展过程 | 第25-26页 |
| 2.2.2 IGBT结构特点和工作原理 | 第26-27页 |
| 2.3 IGBT的热阻测量 | 第27-39页 |
| 2.3.1 k系数 | 第28页 |
| 2.3.2 IEC60747-7热阻测量标准方法 | 第28-32页 |
| 2.3.2.1 采用集电极-发射极电压为温敏参数 | 第28-30页 |
| 2.3.2.2 采用栅极-发射极阈值电压作为热敏参数 | 第30-32页 |
| 2.3.3 JEDEC标准方法 | 第32-38页 |
| 2.3.3.1 热阻定义 | 第32-33页 |
| 2.3.3.2 测量降温曲线并修正 | 第33-34页 |
| 2.3.3.3 分离点 | 第34-35页 |
| 2.3.3.4 结构函数 | 第35-36页 |
| 2.3.3.5 实验装置 | 第36页 |
| 2.3.3.6 JEDEC方法总结 | 第36-38页 |
| 2.3.4 两种方法特点比较 | 第38-39页 |
| 2.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 本章参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 IGBT热阻测量及分析 | 第41-54页 |
| 3.1 Analysis Tech Phase 11概述 | 第41-43页 |
| 3.2 实验内容 | 第43-44页 |
| 3.2.1 测试原理 | 第43-44页 |
| 3.2.2 测量器件 | 第44页 |
| 3.3 实验结果及分析 | 第44-52页 |
| 3.3.1 M因子测量 | 第44-46页 |
| 3.3.2 测量延迟 | 第46-47页 |
| 3.3.3 稳态热阻测量 | 第47-49页 |
| 3.3.4 结构函数研究 | 第49-52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 本章参考文献 | 第53-54页 |
| 第四章 IGBT结温分布不均匀性研究 | 第54-71页 |
| 4.1 小电流过趋热效应 | 第54-55页 |
| 4.2 Shockley方程修正 | 第55-58页 |
| 4.3 MQH算法 | 第58-62页 |
| 4.3.1 MQH算法表述 | 第58-60页 |
| 4.3.2 本底数据 | 第60页 |
| 4.3.3 MQH算法 | 第60-62页 |
| 4.4 IGBT热阻测试系统 | 第62-65页 |
| 4.4.1 自主设计仪器 | 第62页 |
| 4.4.2 测试原理 | 第62-63页 |
| 4.4.3 仪器构成 | 第63-64页 |
| 4.4.3.1 测试主机 | 第63-64页 |
| 4.4.3.2 加热电压源 | 第64页 |
| 4.4.3.3 测试盒 | 第64页 |
| 4.4.4 仪器功能 | 第64-65页 |
| 4.4.4.1 阶梯电流采样TSP | 第64-65页 |
| 4.4.4.2 瞬态热阻和稳态热阻测量 | 第65页 |
| 4.5 测试结果 | 第65-68页 |
| 4.5.1 本底数据的自洽证明 | 第65-66页 |
| 4.5.2 测试数据 | 第66-67页 |
| 4.5.3 结温分布计算 | 第67-68页 |
| 4.6 MQH算法评价 | 第68-69页 |
| 4.7 本章小结 | 第69-70页 |
| 本章参考文献 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 本文取得的研究成果 | 第71-72页 |
| 5.2 未来研究工作展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第74页 |