| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 研究现状和发展趋势分析 | 第13-14页 |
| 1.2.1 国外研究进展 | 第13页 |
| 1.2.2 国内研究进展 | 第13-14页 |
| 1.2.3 存在的问题和差距分析 | 第14页 |
| 1.3 本文主要结构安排 | 第14-16页 |
| 第2章 空间辐射环境对COTS器件的效应与防护分析 | 第16-26页 |
| 2.1 空间辐射环境 | 第16-18页 |
| 2.1.1 地球辐射带 | 第16-17页 |
| 2.1.2 银河宇宙线 | 第17页 |
| 2.1.3 太阳质子事件 | 第17-18页 |
| 2.2 电子元器件的空间辐射效应 | 第18-22页 |
| 2.2.1 单粒子效应 | 第18-22页 |
| 2.2.2 总剂量效应 | 第22页 |
| 2.2.3 位移损伤效应 | 第22页 |
| 2.2.4 表面充放电 | 第22页 |
| 2.3 空间辐射效应故障案例分析 | 第22-24页 |
| 2.4 抗辐射效应的防护与加固措施分析 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 抗辐照测试系统设计 | 第26-46页 |
| 3.1 系统设计概述 | 第26-27页 |
| 3.1.1 抗辐照测试系统设计的目的和意义 | 第26页 |
| 3.1.2 抗辐照测试系统的测试原理 | 第26-27页 |
| 3.2 主控电路硬件设计 | 第27-33页 |
| 3.2.1 关键器件选型 | 第28-30页 |
| 3.2.2 电源电路 | 第30页 |
| 3.2.3 时钟电路和复位电路 | 第30-31页 |
| 3.2.4 RS422通信电路 | 第31页 |
| 3.2.5 AD采集电路 | 第31-33页 |
| 3.2.6 其他外围接口电路 | 第33页 |
| 3.3 待测板硬件设计 | 第33-40页 |
| 3.3.1 电源芯片电路 | 第35页 |
| 3.3.2 运放芯片电路设计 | 第35页 |
| 3.3.3 存储器芯片 | 第35-39页 |
| 3.3.4 单稳态触发器 | 第39-40页 |
| 3.4 软件设计 | 第40-45页 |
| 3.4.1 软件开发环境 | 第40-41页 |
| 3.4.2 应用软件接口设计 | 第41-42页 |
| 3.4.3 下位机ARM内的控制程序 | 第42-45页 |
| 3.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 硬件电路调试结果分析 | 第46-50页 |
| 4.1 AD采集电路调试 | 第47页 |
| 4.2 上位机通信调试 | 第47-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 COTS器件的单粒子试验方案设计 | 第50-60页 |
| 5.1 单粒子效应实验与验证方法 | 第53-57页 |
| 5.2 ECL电路的单粒子试验 | 第57-58页 |
| 5.3 电源芯片的单粒子试验 | 第58-59页 |
| 5.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第6章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 6.1 课题总结 | 第60页 |
| 6.2 课题展望 | 第60-62页 |
| 个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |