光电二极管阵列光幕探测与处理电路设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外光幕测试技术研究现状 | 第9-15页 |
| 1.2.1 弹丸速度测量技术的发展 | 第9-11页 |
| 1.2.2 光幕靶技术的发展概述 | 第11-15页 |
| 1.3 设计指标 | 第15页 |
| 1.4 本文的内容结构 | 第15-17页 |
| 2 光电二极管等效电路分析 | 第17-24页 |
| 2.1 光电二极管特性分析 | 第17-20页 |
| 2.1.1 频率响应特性 | 第17-18页 |
| 2.1.2 光电二极管的等效电路分析 | 第18-20页 |
| 2.2 光电二极管的选型 | 第20-22页 |
| 2.3 光电二极管的偏置工作方式 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 光电二极管阵列布排优化设计 | 第24-31页 |
| 3.1 总体方案设计 | 第24页 |
| 3.2 光源的设计 | 第24-25页 |
| 3.3 光电二极管线阵列排列 | 第25-30页 |
| 3.3.1 原有光电二极管的排列方式 | 第25-27页 |
| 3.3.2 光电二极管的排列优化 | 第27-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 4 信号处理电路设计 | 第31-41页 |
| 4.1 信号处理电路的设计 | 第31-35页 |
| 4.1.1 电源电路 | 第31-32页 |
| 4.1.2 差分放大电路 | 第32-33页 |
| 4.1.3 信号合成电路 | 第33-34页 |
| 4.1.4 后级放大电路 | 第34-35页 |
| 4.1.5 信号驱动电路 | 第35页 |
| 4.2 实验及结果分析 | 第35-40页 |
| 4.2.1 电路板的调试 | 第35-36页 |
| 4.2.2 实弹射击实验 | 第36-40页 |
| 4.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 5 信号传输电缆故障检测电路设计 | 第41-52页 |
| 5.1 线缆故障检测原理 | 第41-42页 |
| 5.2 线缆故障检测方案论证 | 第42-44页 |
| 5.3 线缆故障检测电路设计 | 第44-46页 |
| 5.3.1 单片机外围电路设计 | 第44页 |
| 5.3.2 故障检测电路设计 | 第44-45页 |
| 5.3.3 显示电路设计 | 第45-46页 |
| 5.4 软件设计 | 第46-49页 |
| 5.4.1 中断程序设计 | 第48页 |
| 5.4.2 自检子函数 | 第48页 |
| 5.4.3 检测程序 | 第48-49页 |
| 5.5 在线线缆检测方式的研究 | 第49-51页 |
| 5.5.1 供电芯线的检测 | 第49-50页 |
| 5.5.2 信号芯线的检测 | 第50-51页 |
| 5.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 6 低温电路实验 | 第52-56页 |
| 6.1 低温对电路的影响 | 第52-53页 |
| 6.2 低温芯片的选择 | 第53-54页 |
| 6.3 低温试验 | 第54-55页 |
| 6.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 7 总结与展望 | 第56-58页 |
| 7.1 总结 | 第56页 |
| 7.2 存在的问题及展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
