一体化多通道变频器软件架构设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 嵌入式控制与变频器技术的历史与现状 | 第11页 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 | 第11-12页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 嵌入式软件设计特点 | 第13-23页 |
| 2.1 设备功能性能指标 | 第13-15页 |
| 2.1.1 功能指标 | 第13-14页 |
| 2.1.2 技术指标 | 第14页 |
| 2.1.3 整机控制方式 | 第14-15页 |
| 2.1.4 结构 | 第15页 |
| 2.2 变频器软件基本结构 | 第15-16页 |
| 2.3 嵌入式软件设计的特点 | 第16-22页 |
| 2.3.1 嵌入式软件对硬件的依赖性 | 第16页 |
| 2.3.2 稳定性要求高 | 第16-17页 |
| 2.3.3 内存不足 | 第17-22页 |
| 2.4 嵌入式软件架构的设计因素 | 第22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 多通道变频器软件架构总体设计 | 第23-29页 |
| 3.1 多通道变频器结构设计 | 第23-24页 |
| 3.2 变频模块关键技术 | 第24-27页 |
| 3.2.1 一本振设计 | 第25页 |
| 3.2.2 二本振设计 | 第25-26页 |
| 3.2.3 增益分配 | 第26页 |
| 3.2.4 闭环自检功能设计 | 第26-27页 |
| 3.3 软件架构总体设计 | 第27-28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 多通道变频器关键软件设计 | 第29-49页 |
| 4.1 嵌入式单片机的资源 | 第29-31页 |
| 4.1.1 微处理器 | 第29页 |
| 4.1.2 微处理器内部资源 | 第29-31页 |
| 4.2 嵌入式软件的设计实现 | 第31-43页 |
| 4.2.1 CAN总线通信 | 第32-36页 |
| 4.2.2 地址识别 | 第36-37页 |
| 4.2.3 对外通信 | 第37-41页 |
| 4.2.4 本地监控 | 第41-43页 |
| 4.3 变频单元内部控制软件 | 第43-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 系统软件、硬件测试 | 第49-62页 |
| 5.1 软件测试 | 第49-54页 |
| 5.1.1 软件测试连接 | 第49-50页 |
| 5.1.2 软件测试 | 第50-53页 |
| 5.1.3 测试记录 | 第53-54页 |
| 5.2 设备功能测试 | 第54页 |
| 5.2.1 频率下变功能测试 | 第54页 |
| 5.2.2 远控功能测试 | 第54页 |
| 5.3 设备性能指标测试 | 第54-61页 |
| 5.3.1 频率范围 | 第54-55页 |
| 5.3.2 输出端 1dB、3dB带宽测试 | 第55页 |
| 5.3.3 驻波测试 | 第55-56页 |
| 5.3.4 本振泄漏测试 | 第56页 |
| 5.3.5 本振电平检测 | 第56-57页 |
| 5.3.6 输出P-1d B测试 | 第57页 |
| 5.3.7 噪声系数测试 | 第57页 |
| 5.3.8 增益及衰减测试 | 第57-58页 |
| 5.3.9 增益平坦度测试 | 第58页 |
| 5.3.10 三阶交调测试 | 第58-59页 |
| 5.3.11 镜像抑制测试 | 第59页 |
| 5.3.12 杂散抑制测试 | 第59-60页 |
| 5.3.13 相位噪声测试 | 第60页 |
| 5.3.14 测试记录 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第62-63页 |
| 6.1 全文总结 | 第62页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-65页 |
